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非接觸式測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/10/26 14:42:13
  • 訪問次數(shù)405
產(chǎn)品標簽:

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  北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學檢測設備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務。主要包括:光學檢測產(chǎn)品:應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、 高精度脈沖延時器等。值得一提的是,近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)
Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度測量系統(tǒng)采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。特點:1. 非接觸式、非破壞性; 2. 實時在線測量或離線測量; 3. 可單次測量多層膜,可測 20 層; 4. 探針靈活配置,實現(xiàn)多個不同目標測量 (最多可配8個探頭); 5. 測試速度快(1s) 6. 適用范圍廣
非接觸式測厚儀 產(chǎn)品信息
產(chǎn)品資料下載
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  • TAPPI_Paper_August_2004
  • silicon_wafer_void_detection
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  • Extended_Abstract_IMAPS_Flip_Chip_2004
  • DS-100-02 OptiGauge II & LT Data Sheet DS-100-02-2020
  • AP-115-01 OptiGauge II vs. Nuclear Gauges
  • AP-114-01 - OptiGauge techniques to measure thicknesses below 12 microns
  • AP-113-01 Real time non contact temperature monitoring
  • 2017-05-22 - App Note - OCT technique 04
  • AP-112-01 Opaque Thickness Measurements
  • Sample Measurement Testing - Medical Balloons
  • Lumetrics OptiGauge Project Applications Notes
  • Non-contact measurement and and analysis of six micron +thin wall coatings on medical balloons and catheters using low coherence interferometry

關(guān)鍵詞:測厚儀 非接觸式測厚儀 玻璃測厚 薄膜測厚 膜層測厚 鏡片測厚


Lumetrics 品牌OptiGauge系列厚度測量系統(tǒng)采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。測量原理:低相干邁克爾遜干涉儀


如圖所示:


Light Source(短相干光源)發(fā)出短相干光束,經(jīng)Beamsplitter分束成兩束光,這兩束光通過準直儀聚焦到Measurement arm(測量臂)和Reference arm(參考臂)上;
在測量臂段,光束經(jīng)待測物前后兩表面反射產(chǎn)生兩束反射光;在參考臂段,光束被delay line(延遲線路)中的掃描參考鏡反射。
各反射光束經(jīng)光纖返回到Beamsplitter 中,此時掃描反射鏡反射的光束分別與R1和R2兩束光發(fā)生干涉產(chǎn)生兩干涉信號經(jīng)探測器(光電二級管)轉(zhuǎn)換為電信號再由顯示儀顯示。參考鏡位置可以精確移動,當干涉儀的測量臂與參考臂光程相等時,才能夠發(fā)生干涉。這樣通過監(jiān)控參考鏡的移動,就可以 測量被測鏡的位置。

OptiGauge測厚儀特點

1. 非接觸式、非破壞性;
2. 實時在線測量或離線測量;
3. 可單次測量多層膜,可測 20 層;
4. 探針靈活配置,實現(xiàn)多個不同目標測量 (最多可配8個探頭);
5. 測試速度快(1s)
6. 適用范圍廣

測厚儀性能參數(shù):

型號

OptiGauge® LT

OptiGauge II

OptiGauge EMS

測量范圍(n=1.5)

12μm to 3.3 mm

12µm to 12 mm

12µm to 35 mm

測量層數(shù)

1

20

20

精度

±1μm

±0.1µm

±0.1µm

重復精度

1μm 1σ

0.1µm 1σ

0.1µm 1σ

掃描速率

50Hz

50Hz,100Hz 和200Hz可選

20Hz

光源

1310nm SLED

45nm wide

1310nm SLED

45nm wide

1310nm SLED

45nm wide

測量頭工作距離

25mm and 50mm

25mm and 50mm

25mm and 50mm

光纖長度

3m,max 1000m

3m,max 1000m

3m,max 1000m

測厚儀應用領(lǐng)域:

Lumetrics 產(chǎn)品既可以提供獨立的測量頭,也可以集成在各種設備中,廣泛應用在以下領(lǐng)域,

1、光電子行業(yè):

2 、薄膜行業(yè):測量塑料薄膜的厚度

3 、醫(yī)療行業(yè):測量滴液管、塑料管壁厚、糖尿試紙、等

4、單件元件厚度控制(特別適用于紅外材料,測量厚度控制平行度)
5 、平板玻璃厚度測試:浮法玻璃、液晶平板 透鏡中心厚及膠合間隙測量

關(guān)鍵詞:測厚儀
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