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LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/10/26 14:35:56
  • 訪問次數(shù)332
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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  北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時(shí)間、FLIM、 高精度脈沖延時(shí)器等。值得一提的是,近年來公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)
弱吸收的意義在高功率激光系統(tǒng)中,光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題: 1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化 2.波前畸變 3.退偏 4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個(gè)重要指標(biāo)
LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀 產(chǎn)品信息
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弱吸收儀測量意義

在高功率激光系統(tǒng)中,光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題:
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個(gè)重要指標(biāo)

LID原理示意圖

此系統(tǒng)采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù),用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應(yīng)),當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡”效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移,通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

LID結(jié)構(gòu)圖

LID技術(shù)參數(shù)一覽表

項(xiàng)目 LID
儀器原理 光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)
Pump激光器 UV到IR常見激光波長任選
光束質(zhì)量要求不高,可以同時(shí)配置多臺激光器
不同波長光路切換簡單
Probe激光器 LD 640nm
儀器校準(zhǔn) 電極校準(zhǔn) 體吸收:樣品中間鉆孔放置棒型熱敏電 面吸收:表面放置熱敏電阻
測試項(xiàng)目 體吸收、HR及AR膜吸收

LID與PCI比較一覽表

項(xiàng)目 LID
樣品屬性要求 任何未知樣品或已知樣品
測試結(jié)果 吸收系數(shù)是值
區(qū)分面、體吸收 可以
樣品規(guī)格 方形,且四面拋光(采用sandwich模塊只需兩面拋光);
圓形:厚度1mm,φ25.4mm min:3x3x3mm(采用sandwich模塊)
通常:20x20x10mm
靈敏度 面吸收:0.1ppm 體吸收:0.1ppm/cm
測量速度 40min/片

LID校準(zhǔn)-電極校準(zhǔn)

采用電極校準(zhǔn)得出校正因子Fcal, Ilid 為信號強(qiáng)度,Pl 為pump光功率。

特點(diǎn):是無需了解樣品材料的特性,便可提供獨(dú)立校準(zhǔn)。如果改變光熱偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)裝置,需要客戶自己插入和連接校準(zhǔn)樣品,利用軟件完成自動校準(zhǔn)。


LID測量結(jié)果

關(guān)鍵詞:傳感器
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