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PCI共光路干涉弱吸收儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/10/26 14:31:54
  • 訪問次數(shù)306
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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  北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時間、FLIM、 高精度脈沖延時器等。值得一提的是,近年來公司科研團(tuán)隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實(shí)的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)
PCI弱吸收儀特點(diǎn):精度高: 1 ppm;一次測量可以區(qū)分體、面吸收;掃描速度快(幾分鐘);對樣品規(guī)格要求不高;操作方便、簡單。
PCI共光路干涉弱吸收儀 產(chǎn)品信息
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測量原理

右圖,Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測樣品上,光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應(yīng),當(dāng)一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時,探測光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉,并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理,最后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。

 PCI弱吸收儀特點(diǎn):

  • 精度高: 1 ppm;
  • 一次測量可以區(qū)分體、面吸收;
  • 掃描速度快(幾分鐘);
  • 對樣品規(guī)格要求不高;
  • 操作方便、簡單。

 PCI弱吸收儀應(yīng)用領(lǐng)域:

  • 光學(xué)薄膜
  • 光學(xué)晶體材料
  •  光學(xué)鏡片

PCI弱吸收儀性能

  • 測量晶體(LBO、YVO4、KTP…)或光學(xué)產(chǎn)品(K9、BK7、UVFS…)內(nèi)部材料的弱吸收(體吸收)
  • 測量晶體或光學(xué)產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收
     

PCI 指標(biāo)說明

波長
 常規(guī)355、532、1064nm,其它波長可定制
靈敏度
體吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm
樣品規(guī)格
方形、圓形均可
最小尺寸(mm):3x3x3;
尺寸(mm):50x50x50
其它尺寸可定制
測試速度
常規(guī)2min/片(相對6mm厚度)
區(qū)分體、面吸收
一次測量可以區(qū)分體、面吸收
軟件掃描功能
 AbMat-1D: 一維逐點(diǎn)掃描
AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式
長度/面/時間掃描

PCI 配置說明

1.光源
Probe光源
632nmHe-Ne 激光器()
-功率:2mw
-功率穩(wěn)定性:<0.1%
-發(fā)散角:1.3mrad
-偏振比:500:1
Pump光源
#1064nm 光纖激光器
-平均功率: 20W(CW)
-光束質(zhì)量M2:<1.5
-功率穩(wěn)定性:<2%(超過5 小時)
-偏振:隨機(jī)
-制冷方式:風(fēng)冷
-偏振光系統(tǒng)
2.探測部分
含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調(diào)整架等。
3.載物臺部分
含三維步進(jìn)電機(jī)、樣品支架等
4.光學(xué)元件部分
反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等
5.軟件部分
實(shí)時數(shù)據(jù)采集,自動保存,數(shù)據(jù)分析等。
 一維逐點(diǎn)掃描
 二維吸收立體掃描
6.其它說明
建議設(shè)備安裝在超凈間環(huán)境;
建議配UPS電源。

測量結(jié)果及儀器實(shí)物圖

 

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