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蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

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公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/8/1 14:35:39
訪問(wèn)次數(shù)520

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海禹重實(shí)業(yè)有限公司（以下簡(jiǎn)稱禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測(cè)技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開(kāi)發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。目前除上海總部外，我們已建立北京、沈陽(yáng)、太原、長(zhǎng)沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

禹重科技®作為Thermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測(cè)科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營(yíng)，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案，同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷售，材料測(cè)試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

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成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

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蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺(tái)。Sigma500/VP專注于*的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)使您可以獲取*的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡(jiǎn)化分析程序、提高工作效率。

蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺(tái)。Sigma500/VP專注于*的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)使您可以獲取*的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡(jiǎn)化分析程序、提高工作效率。您會(huì)比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測(cè)器的選擇使Sigma500/VP可以精準(zhǔn)的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息。
蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡【技術(shù)參數(shù)】
分辨率： 0.8nm @15 kV 1.6 nm @1kV
放大倍數(shù)：10-1,000,000×
加速電壓：調(diào)整范圍：0.02-30 kV（無(wú)需減速模式實(shí)現(xiàn)）
探針電流： 4pA-20nA （40nA&100nA可選）
低真空范圍：2-133Pa（Sigma 500VP可用）
樣品室： 358 mm（φ），270.5 mm（h）
樣品臺(tái)：5軸優(yōu)中心全自動(dòng)
X=125 mm（可選130mm）
Y=125 mm（可選130mm）
Z=50 mm
T=-10o-90o
R=360o 連續(xù)
系統(tǒng)控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡廣泛用于材料科學(xué)（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲(chóng)害的防治、災(zāi)害（火災(zāi)、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。在材料科學(xué)、金屬材料、陶瓷材料半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域，進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析。各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體/晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。