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蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
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廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/8/1 14:34:03
訪問次數(shù)774

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上海禹重實(shí)業(yè)有限公司（以下簡稱禹重科技®）是一家以服務(wù)introduce中國市場為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和檢測技術(shù)服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、實(shí)驗(yàn)室服務(wù)事業(yè)部、項(xiàng)目開發(fā)部、以及中禹聯(lián)重檢測技術(shù)中心。目前除上?？偛客猓覀円呀⒈本?、沈陽、太原、長沙、廣州、青島和成都等分支機(jī)構(gòu)。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們禹重科技®的目標(biāo)。

禹重科技®作為Thermo Science（賽默飛）、DIONEX（戴安）、Gilson（吉爾森）和Tekmar（泰克瑪）等品牌的核心代理商，依托（香港）亞測科技有限公司（Amicrotest Technology Limited），我們將分析測試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國內(nèi)客戶，為眾多企業(yè)和高校、科研院所以及政府機(jī)構(gòu)的產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、合規(guī)運(yùn)營，提供成分分析儀器、表面分析儀器、自動(dòng)化樣品前處理儀器和物理力學(xué)儀器等綜合性儀器解決方案，同時(shí)提供儀器配套設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)樣品耗材的銷售，材料測試等實(shí)驗(yàn)室服務(wù)。

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成分分析儀，表面分析儀，光譜儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設(shè)計(jì)將靜電場與磁場結(jié)合，可在Z大限度地提升光學(xué)性能的同時(shí)將場發(fā)射對樣品的損傷降至Z低。

蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式。Gemini物鏡設(shè)計(jì)將靜電場與磁場結(jié)合，可在zui大限度地提升光學(xué)性能的同時(shí)將場發(fā)射對樣品的損傷降至zui低。此設(shè)計(jì)確保了ji佳的成像質(zhì)量，即使是較具挑戰(zhàn)性的磁性材料也同樣可以達(dá)到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上，可以減少調(diào)整時(shí)間，并可zui大限度地降低成像時(shí)間。Gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達(dá)到超低的加速電壓。
蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡【技術(shù)參數(shù)】
分辨率： 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV
放大倍數(shù)：12-2,000,000×
加速電壓：調(diào)整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實(shí)現(xiàn)）
探針電流： 3pA-20nA（100nA可選）
低真空范圍： 10-500Pa （GeminiSEM300 VP可用）
樣品室： 330 mm（φ），270 mm（h）
樣品臺：5軸優(yōu)中心全自動(dòng)
X=130mm
Y=130mm
Z=50 mm
T=-3o-70o
R=360o 連續(xù)
系統(tǒng)控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。