詳細摘要： 穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，針座平臺可快速升降和微調(diào)，適合針卡測試 ；大手柄驅(qū)動，操作舒適，無回程差設(shè)計；兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動 ；芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測試；V...

詳細摘要： 非真空環(huán)境下的低溫測試，可達-100℃；大手柄驅(qū)動，操作舒適，無回程差設(shè)計；兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動 ；0.2微米以上芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測試；....

詳細摘要： 可進行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2K-450K）；防輻射屏設(shè)計，樣品溫度均勻性和穩(wěn)定性更好；兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動；探針熱沉設(shè)計；可升級自動流量控制...

詳細摘要： 緊湊的結(jié)構(gòu)；兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動；高等院校/研究所/工業(yè)用戶實驗室使用；可用于12英寸以內(nèi)樣品測試；精密絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動；無回程差設(shè)計；1微米...