穆勒矩陣測量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：150XT,穆勒橢偏儀，Hinds. Hinds Instruments,穆勒矩陣測量系統(tǒng)，穆勒矩陣測量，Exicor，Mueller Polarimeter 

穆勒矩陣測量系統(tǒng)

在同一臺儀器中采用四個光彈性調(diào)制器（PEM），150XT Mueller偏振計可以在幾分之一秒內(nèi)同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hinds 儀器公司產(chǎn)品系列的這一新增功能可應(yīng)用于學術(shù)和工業(yè)研究、光學元件特性、制造和質(zhì)量控制。 承包系統(tǒng)在各種光學、化學和生物化學樣品中繪制出線性延遲、圓形延遲（或旋光）、線性二次衰減和圓形二次衰減。

高靈敏度和重復(fù)性

使用Hinds儀器公司PEM技術(shù)，該系統(tǒng)為一個完整的穆勒偏振計提供了高水平的靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以幾十千赫的速率調(diào)制。高靈敏度和重復(fù)性可輕松提供亞納米水平的線性和圓形雙折射測量結(jié)果，以及線性和圓形二次衰減的亞百分比測定，這對于許多應(yīng)用至關(guān)重要。

精心設(shè)計，操作簡單，直觀

一個大至6“x 6”（150mm x 150mm;更大尺寸可選）的樣品可以手動或自動繪制并以圖形方式顯示。 一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導(dǎo)操作員完成步驟測量過程。 用戶界面軟件可計算線性延遲值、圓形延遲值、線性衰減值和圓形衰減值，并以各種格式顯示它們。 該軟件還提供文件管理和校準功能。 在可選模式中，樣本可以相對測量光束傾斜，而不是在XY 平臺移動，使用自動精密旋轉(zhuǎn)器或旋轉(zhuǎn)器生成產(chǎn)所有十六個Mueller矩陣元素的角映射和樣本的所有偏振屬性。

Mueller偏振計測量了通過正在研究的光學樣品的光學路徑集成的偏振特性。一束氦氖激光光束被偏振化，然后由前兩個脈沖編碼調(diào)制。調(diào)制光束通過樣品傳輸，然后通過另外兩個PEM的組合，一個分析器和一個光電探測器。電子信號是通過傅立葉分析捕獲的波形(鎖定選項可用于更低級別的信號檢測)來處理的。一種由紐約大學和Hinds儀器合作開發(fā)的軟件算法，將電子模塊中的信號電平轉(zhuǎn)換成16個Mueller矩陣元素和樣品的極化特性，當在自動映射模式下工作時，x-y平移階段將樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶的格式即時顯示。

主要特點

 在全Mueller偏振計中具有高靈敏度
 同時測量所有十六個Mueller矩陣元素
 同時測量完整的偏振特性
 精確重復(fù)性
 高速測量
 光學系統(tǒng)中無移動部件
 可變尺寸光學元件的自動映射
 光彈調(diào)制器技術(shù)
 簡單、便于用戶使用的操作

應(yīng)用

 學術(shù)和工業(yè)研究
 質(zhì)量控制計量
 精確測量完整的偏振特性
 具有復(fù)雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)的光學元件
 激光晶體
 具有復(fù)雜圖層的液晶顯示器
 非晶態(tài)晶體
 各向異性晶體
 化學和生物各向異性光學材料
 由電場或磁場引起的各向異性