雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

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雙折射（應(yīng)力）測(cè)量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®雙折射測(cè)量技術(shù)于1999年推出，型號(hào)為150AT，為客戶提供技術(shù)*，具生產(chǎn)價(jià)值的測(cè)量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器（PEM）。PEM的調(diào)制純度增強(qiáng)了Exicor屢獲殊榮的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測(cè)量功能。雙檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與PEM科學(xué)相結(jié)合，提供了一個(gè)重要特性：光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動(dòng)部件。 移動(dòng)部件的缺失產(chǎn)生高機(jī)械可靠性以及測(cè)量的可重復(fù)性，并允許同時(shí)測(cè)量幅度和角度。Exicor測(cè)量通過(guò)正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測(cè)量并顯示延遲軸的大小和方向。的設(shè)計(jì)消除了光學(xué)系統(tǒng)中的移動(dòng)部件，并避免了在測(cè)量角度之間切換的必要性。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。 調(diào)制后的光束通過(guò)樣品傳輸并分配一個(gè)分光鏡。 每束光束通過(guò)分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測(cè)器的組合。 電子信號(hào)通過(guò)一個(gè)鎖定放大器處理，提供非常低的信號(hào)檢測(cè)。

由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來(lái)自電子模塊的信號(hào)電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計(jì)算機(jī)從兩個(gè)輸入中選擇，允許從兩個(gè)信號(hào)通道進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。 分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲(chǔ)在文件中。 當(dāng)在自動(dòng)映射模式下操作時(shí)，x-y平移階段將把樣本移動(dòng)到下一個(gè)預(yù)定的測(cè)量位置。 結(jié)果以用戶的格式即時(shí)顯示。

EXICOR故事

多年來(lái)，交叉偏振器代表了雙折射測(cè)量技術(shù)的新水平，研究人員以及質(zhì)量控制專業(yè)人員都可以使用。雖然這個(gè)1或2 nm的靈敏度水平有時(shí)足夠了，“像素”量化，計(jì)量水平重復(fù)性和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析能力缺失。 Hinds 儀器公司研發(fā)恩怨利用光彈性調(diào)制技術(shù)的二十多年經(jīng)驗(yàn)，將這個(gè)相對(duì)快速（50 kHz），非機(jī)械，幾乎純正弦的“偏振切換器”應(yīng)用于雙折射測(cè)量挑戰(zhàn)。與傳統(tǒng)測(cè)量方法相比，結(jié)果是測(cè)量靈敏度數(shù)量級(jí)的兩倍，有時(shí)甚至提高了三倍。這項(xiàng)技術(shù)已被廣泛發(fā)布和記錄。交鑰匙式Exicor系統(tǒng)使雙折射測(cè)量變得直觀和簡(jiǎn)單。它的個(gè)軟件允許對(duì)雙折射數(shù)據(jù)進(jìn)行多重視圖和統(tǒng)計(jì)分析。