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科研級(jí)暗場金相顯微鏡XJ-51BD 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述科研級(jí)暗場金相顯微鏡XJ-51BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-51BD 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線留言 -
三目暗場金相顯微鏡XJ-55BD 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述三目暗場金相顯微鏡XJ-55BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-55BD 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線留言 -
科研級(jí)暗場金相顯微鏡XJ-52BD 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述科研級(jí)暗場金相顯微鏡XJ-52BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-52BD 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線留言 -
明暗場金相顯微鏡XJ-58C 詳細(xì)摘要: 產(chǎn)品概述科研級(jí)明暗場正置金相顯微鏡XJ-58C適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、...
產(chǎn)品型號(hào):XJ-58C 所在地:上海市 更新時(shí)間:2022-07-22 參考價(jià): 面議 在線留言