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科研級暗場金相顯微鏡XJ-51BD

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  • 型號 XJ-51BD
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地 上海市

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更新時間:2022-07-22 16:28:10瀏覽次數(shù):321

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品概述科研級暗場金相顯微鏡XJ-51BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究

詳細(xì)介紹

科研級暗場金相顯微鏡XJ-51BD適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于觀察材料表面特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器。總放大倍數(shù):50-600X
◆產(chǎn)品特點(diǎn):
1、采用了無限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì)。
2、采用大視野目鏡和明暗場長距平場物鏡,視場平坦,成像清晰。
4、配置了偏光、暗場裝置、可選配微分干涉裝置,拓展了功能。
5、整機(jī)采用了防霉處理,保護(hù)了鏡頭,延長了儀器的使用壽命。
6、兩路光路自由切換輸出,一路用于觀察,一路連接攝像裝置。
◆典型應(yīng)用:
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗(yàn)。
2、觀察材料表面的某些特性,3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。

一、顯微鏡參數(shù):

序號 名稱 技術(shù)參數(shù)
01 平場目鏡 WF10X/Φ22mm
02 明暗平場物鏡 無限遠(yuǎn)長距PLL 5X/0.10、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、60X/0.75
03 總放大倍數(shù) 50X-600X
04 觀察頭 雙目,鉸鏈?zhǔn)?5°傾斜
05 轉(zhuǎn)換器 五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位)
06 粗調(diào)調(diào)焦范圍 粗微動同軸調(diào)焦,帶鎖緊裝置,微動格值:2μm
07 載物臺 機(jī)械移動載物臺,外形尺寸:242mmX200mm,移動范圍30mmX30mm
圓形可旋轉(zhuǎn)載物臺板尺寸:外徑Ф130mm,最小通光口徑小于Ф12mm
08 光瞳距離 53-75mm
09 濾色片 磨砂玻璃、黃、綠、藍(lán)濾色片
10 暗場照明 12V50W鹵素?zé)?,亮度可調(diào)12V50W 內(nèi)置視場光闌、孔徑光闌
11 偏光裝置 拉板式起偏器,檢偏器(可選配DIC微分干涉裝置)
12 儀器重量 凈重7.0kg 毛重8.5kg
13 儀器尺寸 儀器尺寸18X25X33(cm) 包裝尺寸42X35X52(cm)

二、目鏡參數(shù):

型號
T ype
放大倍率
Magnification
視場直徑(mm)
F.O.V
外徑(mm)
Tube diameter
WF10X/22 10X Φ22 Φ30.0

三、物鏡參數(shù):

放大倍率 Magnification 數(shù)值孔徑 N.A 分辨率 R(μm) 工作距離WD(mm) 共軛距離Conjugate(mm) 齊焦距離Parfocus(mm) 蓋玻片厚度CoverGlass(mm)
5X 0.12 2.10 9.70 45
10X 0.25 1.10 9.30 45
20X 0.40 0.70 7.23 45
40X 0.60 0.55 3.00 45
60X 0.75 0.42 1.90 45

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