-
膜厚儀F3-sX系列 測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: F3-sX系列膜厚儀F3-sX系列膜厚儀能測(cè)量半導(dǎo)體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度不好;波長選配F3-sX系列使用近...
產(chǎn)品型號(hào):F3-sX系列 所在地: 更新時(shí)間:2024-03-07 參考價(jià): 面議 在線留言 -
反射膜厚儀 F50系列 測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 反射膜厚儀/測(cè)厚儀/F50系列自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量成像FilmetricsF50系列的產(chǎn)品能以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度
產(chǎn)品型號(hào):F50系列 所在地: 更新時(shí)間:2024-03-05 參考價(jià): 面議 在線留言 -
反射膜厚儀F20系列 測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 反射膜厚儀/測(cè)厚儀/F20系列的臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)只需按下一個(gè)按鈕,您在不到一秒鐘的同時(shí)測(cè)量厚度和折射率
產(chǎn)品型號(hào):F20系列 所在地: 更新時(shí)間:2024-03-03 參考價(jià): 面議 在線留言 -
反射膜厚儀F40系列 測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要: 反射膜厚儀/測(cè)厚儀/F40系列將您的顯微鏡變成薄膜測(cè)量工具FilmetricsF40系列主要用于測(cè)試各種透明半透明的膜厚,可測(cè)量小到1微米的光斑
產(chǎn)品型號(hào):F40系列 所在地: 更新時(shí)間:2024-03-01 參考價(jià): 面議 在線留言