反射膜厚儀F20系列 測厚儀

反射膜厚儀/測厚儀/F20系列 

的臺(tái)式薄膜厚度測量系統(tǒng)

只需按下一個(gè)按鈕，您在不到一秒鐘的同時(shí)測量厚度和折射率。設(shè)置同樣簡單, 只需插上設(shè)備到您運(yùn)行Windows™系統(tǒng)計(jì)算機(jī)的USB端口, 并連接樣品平臺(tái) , F20已在世界各地有成千上萬的應(yīng)用被使用. 事實(shí)上，我們每天從我們的客戶學(xué)習(xí)更多的應(yīng)用.

選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）應(yīng)用于非晶態(tài)多晶硅，CMP，電介質(zhì)，玻璃和塑料厚度，硬涂層厚度，集成電路故障分析，，銦錫氧化物與透明導(dǎo)電氧化物，醫(yī)療設(shè)備，金屬厚度測量，有機(jī)發(fā)光顯示器，眼科設(shè)備涂層，有機(jī)保焊劑/銅表面處理，聚對(duì)二甲苯涂層，光刻膠，多孔硅，制程薄膜，折射率和消光系數(shù)，硅晶圓薄膜，太陽光伏，半導(dǎo)體教學(xué)實(shí)驗(yàn)室，卷式涂層

Filmetrics F20*是監(jiān)測薄膜沉積的有效工具，可安裝在任何真空鍍膜機(jī)腔體外的窗口，實(shí)時(shí)監(jiān)控長晶速度，實(shí)時(shí)測量膜厚、n 、k 值以及半導(dǎo)體和絕緣體涂層的均勻性?？杉友b三個(gè)探頭，同時(shí)測量三個(gè)樣品，有三種不同波長選擇( 波長范圍從可見光380nm 至近紅外1700nm)； 

主要特點(diǎn)：

*測量精度高，優(yōu)于1% ； 
*測量速度快，幾秒鐘內(nèi)可完成測量； 
*整套設(shè)備可放置在沉積室外； 
*操作簡單，使用方便； 
*價(jià)格便宜

應(yīng)用領(lǐng)域:

*分子束外延MBE； 
*金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積MOCVD； 
*材料研究； 
*光電鍍膜應(yīng)用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片

額外的好處：

· 每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種

· 應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）

· 網(wǎng)上的 “手把手" 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))

· 硬件升級(jí)計(jì)劃