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BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱
適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。
BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實(shí)時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預(yù)先設(shè)定,當(dāng)被測材料實(shí)時漏電流超出設(shè)定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護(hù)被測元件不被進(jìn)一步燒毀。
BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱
·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制
·實(shí)時監(jiān)測每個試驗(yàn)器件的Id、Ig
· 控制上、下電時序
· 全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel
·試驗(yàn)報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線
·漏電流超限保護(hù),自動切斷測量回路