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BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

參考價 99999
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱成都四洋科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地成都市
  • 廠商性質(zhì)代理商
  • 更新時間2024/10/23 16:32:19
  • 訪問次數(shù)186
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成都四洋科技有限公司是FSSC成員之一,位于中國成都經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)。主要涉足低溫、電子、真空行業(yè)。公司擁有一批技術(shù)團(tuán)隊,是集生產(chǎn)、貿(mào)易、維修服務(wù)為一體的高科技公司。公司核心技術(shù)人員依托美國Chart(原中國國企“金鳳“)及航空、核工業(yè)物理所技術(shù)優(yōu)勢,致力于低溫儲存技術(shù)、真空絕熱技術(shù)、深冷處理技術(shù)的研究、開發(fā)及系統(tǒng)集成,提供特殊低溫應(yīng)用領(lǐng)域的技術(shù)方案、產(chǎn)品設(shè)計及專用低溫設(shè)備研發(fā);代理業(yè)務(wù)包括銷售國外產(chǎn)品:美國AEG調(diào)功器、美國AE(Advanced Energy)公司電源、美國MKS(萬機(jī))真空計及流量計、德國普發(fā)Pfeiffer真空設(shè)備及儀器、美國Brooks Automation CTI低溫冷泵、GP真空計、瑞士英??礽nficon、Brooks instrument流量計、VAT真空閥門等產(chǎn)品。




我公司有著充足的庫存,交貨期短,在價格上有很大優(yōu)勢,有一支兼銷售、技術(shù)支持、售后服務(wù)為一體的優(yōu)秀團(tuán)隊為您提供貼心服務(wù)!歡迎致電4008-567-377或發(fā)郵件到siyangchina@163.com索取您所感興趣的產(chǎn)品資料。

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www.4-ocean.com


MKS、GP、Inficon、Pfeiffer、Adixen、Busch 、CVI低溫泵、VAT真空閥門、Swagelok真空配件、Line Tech 流量計等
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
自動化程度 其他
BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱,適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。
BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱 產(chǎn)品信息

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BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。


BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實(shí)時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預(yù)先設(shè)定,當(dāng)被測材料實(shí)時漏電流超出設(shè)定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護(hù)被測元件不被進(jìn)一步燒毀。


BHAST偏壓加速老化試驗(yàn)箱

·每顆器件的Vgs獨(dú)立控制

·實(shí)時監(jiān)測每個試驗(yàn)器件的Id、Ig


· 控制上、下電時序


· 全過程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel


·試驗(yàn)報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線


·漏電流超限保護(hù),自動切斷測量回路


















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