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HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實驗箱
評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經(jīng)過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗,可進行BHAST試驗。
HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實驗箱
特點
·高機能:采用驅(qū)動計測, 測試時焊接工序大幅減少
·軟件設(shè)計簡單明了,直觀易操作
·遠程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗過程。
·便利性高:構(gòu)造裝著脫落式、 易進行保養(yǎng)交換??赏瑫r試驗停 止等聯(lián)動裝置功能,系統(tǒng)構(gòu)成靈活。
·測試自檢功能:點檢、校正方便。
·設(shè)計精巧,不受場所限制,易移動。
·可靠性高:配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,確保試驗的安全繼續(xù)進行。
HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進行溫濕度(偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
應(yīng)用領(lǐng)域: PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片
HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實驗箱
技術(shù)規(guī)格
類型 500V *1 1000V
通道數(shù) 32通道/64通(可選)
工作時間 1~9999小時
偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC
記性反轉(zhuǎn) 具備
共負極測試(可選) 具備
CAF測試(可選) 具備
測試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進) 100-500VDC (0.1V 步進) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進) 100-1000VDC (0.1V 步進)