弱吸收-共光路干涉吸收儀
測(cè)量原理
右圖,Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測(cè)樣品上,光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應(yīng),當(dāng)一束Probe beam(探測(cè)光)經(jīng)過(guò)熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時(shí),探測(cè)光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉,并產(chǎn)生周期性相位畸變信號(hào)。探測(cè)器通過(guò)探測(cè)其相位畸變情況并由鎖相放大器信號(hào)處理,最后由軟件計(jì)算顯示出待測(cè)樣品的吸收值。
PCI弱吸收儀特點(diǎn):
- 精度高: 1 ppm;
- 一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收;
- 測(cè)量方式:透射式、反射式(可選)
- 掃描速度快(幾分鐘);
- 對(duì)樣品規(guī)格要求不高;
- 操作方便、簡(jiǎn)單。
PCI弱吸收儀應(yīng)用領(lǐng)域:
- 光學(xué)薄膜;
- 光學(xué)晶體材料;
- 光學(xué)鏡片。
PCI弱吸收儀性能
- 測(cè)量晶體(LBO、YVO4、KTP…)或光學(xué)產(chǎn)品(K9、BK7、UVFS…)內(nèi)部材料的弱吸收(體吸收);
- 測(cè)量晶體或光學(xué)產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收。
PCI 指標(biāo)說(shuō)明
項(xiàng)目 | 參數(shù)說(shuō)明 |
pump波長(zhǎng) | 1064nm |
測(cè)量精度 | 1064nm:面吸收:1ppm;體吸收:1ppm/cm |
樣品規(guī)格 | 方形、圓形均可 最小尺寸(mm):3x3x3; 尺寸(mm):50x50x50;150x150x50 可定制樣品尺寸 |
掃描分辨率 | 10ms單次,10um-4mm/s掃描 |
測(cè)試速度 | 常規(guī)2min/片(相對(duì)6mm厚度) |
區(qū)分體、面吸收 | 一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收 |
軟件掃描功能 | AbMat-1D: 一維逐點(diǎn)掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描 |
掃描方式 | 長(zhǎng)度/面/時(shí)間掃描 |
PCI 配置說(shuō)明
1.光源 | Probe光源 632nmHe-Ne 激光器() -功率:2mw -功率穩(wěn)定性:<> -發(fā)散角:1.3mrad -偏振比:500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率: 20W(CW) -光束質(zhì)量M2:<> -功率穩(wěn)定性:<2%(超過(guò)5 小時(shí)) -偏振:隨機(jī) -制冷方式:風(fēng)冷 -偏振光系統(tǒng) |
2.探測(cè)部分 | 含鎖相放大器、光斬波器、探測(cè)器、功率計(jì)、二維調(diào)整架等。 |
3.載物臺(tái)部分 | 含三維步進(jìn)電機(jī)、樣品支架等 |
4.光學(xué)元件部分 | 反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等 |
5.軟件部分 | 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集,自動(dòng)保存,數(shù)據(jù)分析等。 一維逐點(diǎn)掃描 二維吸收立體掃描 |
6.其它說(shuō)明 | 建議設(shè)備安裝在超凈間環(huán)境; 建議配UPS電源。 |
測(cè)量結(jié)果及儀器實(shí)物圖