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雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si

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公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2022/10/26 14:09:29
訪問次數(shù)287

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　　北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測產(chǎn)品:激光功率計、能量計、光束質(zhì)量分析儀、M2測試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。值得一提的是，近年來公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.

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應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測厚儀、測角儀、激光損傷閾值測試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介在線詢價

Hinds儀器的’Exicor® 雙折射測量系統(tǒng)PV-Si是工作平臺的擴(kuò)展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光和Ge雪崩光電二極管探測器，實(shí)現(xiàn)了光伏和半導(dǎo)體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測量，除硅外，還可測量藍(lán)寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅(jiān)固、通用，可容納和測量直徑達(dá)8英寸的500毫米粗錠。臺面設(shè)計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為原材料改進(jìn)、研發(fā)和日常評估的選擇......

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si 產(chǎn)品信息

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雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si

在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應(yīng)力雙折射儀，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺儀器被用作質(zhì)量控制工具時，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前，可以識別出低質(zhì)量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質(zhì)量的工具，使其能夠生產(chǎn)出較薄的硅片，降低了機(jī)械產(chǎn)量損失。

Hinds儀器的’Exicor® 雙折射測量系統(tǒng)PV-Si是Exicor雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺的擴(kuò)展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器，實(shí)現(xiàn)了光伏和半導(dǎo)體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測量，除硅外，還可測量藍(lán)寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅(jiān)固、通用，可容納和測量直徑達(dá)8英寸的500毫米粗錠。臺面設(shè)計和直觀的自動掃描軟件使該產(chǎn)品成為原材料改進(jìn)、研發(fā)和日常評估的選擇，也是對原始硅錠和其他高技術(shù)材料進(jìn)行評估的選擇。

前沿靈敏度和重復(fù)性

使用HiNDS儀器的光彈性調(diào)制器（PEM）技術(shù)，該系統(tǒng)可提供高水平的雙折射靈敏度。此外，PEM提供高速操作，調(diào)制頻率為50 kHz。的前沿靈敏度和可重復(fù)性易于提供亞納米水平的雙折射測量，這對于許多應(yīng)用至關(guān)重要。

專為簡單、直接的操作而設(shè)計

直徑200毫米，長500毫米的鑄錠可以手動或自動繪制并以圖形方式顯示。一旦樣品被放置在翻譯階段，直觀的軟件指導(dǎo)操作員完成步驟測量過程。用戶界面軟件計算延遲值和快軸角度，并以各種格式顯示它們。該軟件還提供文件管理和校準(zhǔn)功能。

應(yīng)用

質(zhì)量控制計量

由硅和砷化鎵等半導(dǎo)體材料生長的錠料的雙折射測量

主要特點(diǎn)

在低水平雙折射測量中具有高靈敏度
同時測量雙折射幅度和角度
精度重復(fù)性
高速測量
光學(xué)系統(tǒng)中無移動部件
可變尺寸光學(xué)元件的自動映射
光彈調(diào)制器技術(shù)
簡單、便于用戶使用的操作

Exicor PV-Si通過所研究的光學(xué)樣品沿光路徑測量延遲。它旨在測量和顯示樣品光學(xué)延遲的幅度和快軸取向。在這個的設(shè)計中，鑄錠保持固定，并且Exicor源和探測器模塊由電腦控制臺移動。 1550nm激光光束被偏振，然后由源模塊中的PEM調(diào)制。調(diào)制光束通過樣品傳輸，然后通過檢測器模塊，第二個PEM、分析儀和Ge-APD光電探測器的組合。電子信號通過三個并聯(lián)的鎖相放大器進(jìn)行處理，提供非常低的信號檢測。由Hinds 儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機(jī)對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，然后顯示遲滯幅度和軸角度并存儲在文件中。當(dāng)在自動繪圖模式下操作時，源和檢測器模塊將被移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶的格式即時顯示。