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Flex-Axiom原子力顯微鏡電子顯微鏡

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海納嘉儀器有限公司
品牌
型號(hào)Flex-Axiom
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/12/10 10:00:18
訪問(wèn)次數(shù)1548

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上海納嘉儀器有限公司專業(yè)致力于銷售各種科研測(cè)試類儀器與技術(shù)服務(wù)，主要代理公司的微納米級(jí)表面測(cè)量產(chǎn)品，著力為各高校，研究所以及高科技公司等單位提供集產(chǎn)品、應(yīng)用和服務(wù)于一體的整體解決方案！上海納嘉儀器有限公司主要代理多款微納米級(jí)別表面測(cè)量?jī)x器：原子力顯微鏡&掃描探針顯微鏡，探針式輪廓儀（臺(tái)階儀，三維光學(xué)輪廓儀，色散共焦輪廓儀，光譜式橢偏儀，反射干涉儀以及各種儀器耗材等。我們秉承“為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值”的核心價(jià)值觀，并以“誠(chéng)實(shí)、寬容、創(chuàng)新、服務(wù)”為企業(yè)精神，通過(guò)自主創(chuàng)新和真誠(chéng)合作為行業(yè)創(chuàng)造價(jià)值。關(guān)于“為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值” 我們認(rèn)為客戶、供應(yīng)商、公司股東、公司員工等一切和自身有合作關(guān)系的單位和個(gè)人都是自己的合作伙伴，并只有通過(guò)努力為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值，才能體現(xiàn)自身的價(jià)值并獲得發(fā)展和成功。關(guān)于“誠(chéng)實(shí)、寬容、創(chuàng)新、服務(wù)” 我們認(rèn)為誠(chéng)信是一切合作的基礎(chǔ)，寬容是解決問(wèn)題的前提，創(chuàng)新是發(fā)展事業(yè)的利器，服務(wù)是創(chuàng)造價(jià)值的根本。

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Flex-Axiom型多功能原子力顯微鏡材料研究用的多功能AFM●用于材料研發(fā)的多功能原子力顯微鏡●模塊化概念可以剛好符合您的需求●適用于任何尺寸的樣品為了材料研發(fā)上的成功,科學(xué)家們依賴于能夠隨時(shí)提供所需信息的專業(yè)工具，而不管手頭的任務(wù)是什么

Flex-Axiom原子力顯微鏡電子顯微鏡產(chǎn)品信息

Flex-Axiom型多功能原子力顯微鏡

材料研究用的多功能AFM

●用于材料研發(fā)的多功能原子力顯微鏡

●模塊化概念可以剛好符合您的需求

●適用于任何尺寸的樣品

為了材料研發(fā)上的成功,科學(xué)家們依賴于能夠隨時(shí)提供所需信息的專業(yè)工具，而不管手頭的任務(wù)是什么。通過(guò)推進(jìn)關(guān)鍵技術(shù)與設(shè)計(jì)，Nanosurf使Flex-Axiom成為成為有史以來(lái)功能多、靈活性的AFM之一，可以輕松地處理各種材料研究應(yīng)用。結(jié)合強(qiáng)大的C3000控制器，復(fù)雜的材料表征成為可實(shí)現(xiàn)的。

幾百個(gè)研究用戶，多方面應(yīng)用實(shí)例

Flex-Axiom是您可信賴的工具，不管是在表面形貌還是計(jì)量成像上，不管在大氣中還是液體環(huán)境中。當(dāng)然Flex-Axiom不僅僅可以用于表面形貌測(cè)量，還可以進(jìn)行*的機(jī)械，電學(xué)或磁性能表征。該系統(tǒng)也成功地用于局部樣品納米加工。

高精確度且優(yōu)異的性能滿足您研發(fā)上的需求

Flex-Axiom使用一個(gè)極其線性的電磁掃描頭進(jìn)行XY軸運(yùn)動(dòng)。該掃描頭實(shí)現(xiàn)了在整個(gè)掃描范圍內(nèi)的平均線性偏差小于0.1％，屬于AFM市場(chǎng)上的頂配。 Z軸采用壓電驅(qū)動(dòng)，帶有位置傳感器，可實(shí)現(xiàn)閉環(huán)操作。一個(gè)靈敏的懸臂檢測(cè)系統(tǒng)可以很好地測(cè)量到MHz頻率范圍。掃描頭連接到具有數(shù)字反饋和2個(gè)雙通道鎖定放大器的全功能24位C3000控制器上。

Flex-Axiom 成像模式

以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項(xiàng)。詳情請(qǐng)瀏覽產(chǎn)品手冊(cè)或直接聯(lián)系我們。

靜態(tài)力模式

橫向力模式

動(dòng)態(tài)力模式(輕敲模式)

相位成像模式

熱成像模式

熱掃描顯微 (SThM)

磁性能

磁力顯微

電性能

導(dǎo)電探針 AFM (C-AFM)

壓電力顯微 (PFM)

靜電力顯微 (EFM)

開爾文探針力顯微 (KPFM)

掃描擴(kuò)散電阻顯微 (SSRM)

機(jī)械性能

力譜

力調(diào)制

剛度和模量

附著力

延展性

力映射

其他測(cè)量模式

刻蝕和納米加工

電化學(xué) AFM (EC-AFM)

應(yīng)用示例

SrTiO3在動(dòng)態(tài)模式下的的形貌

鈦酸鍶 (SrTiO3, STO)是鈦和鍶的氧化物，具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu)。它具有有趣且部分*的材料特性。它被用作氧化物基薄膜和高溫超導(dǎo)體生長(zhǎng)的基質(zhì)。STO形成分層結(jié)構(gòu)的表面。各層的厚度在幾埃的范圍內(nèi)。原子力顯微鏡是成像和測(cè)量這些結(jié)構(gòu)的理想工具。

顯示鈦酸鍶階梯的形貌圖，圖像尺寸1.1μm。

截面輪廓和高度分布

樣品清晰地顯示了STO典型的層結(jié)構(gòu)。這里，這些層并不是*光滑的，顯出出大約125pm的殘余粗糙度（RMS）。這是由于在制備該STO樣品期間的非理想終止過(guò)程造成的。中間曲線圖顯示了左圖所示圖像的輪廓線，從圖像區(qū)域的左上角延伸到右下角。該輪廓還清晰地顯示了樣品的層狀結(jié)構(gòu)，并揭示了層高度約.4 ?。同樣，在右側(cè)曲線圖中，左圖的高度分布直方圖清晰地顯示了大約.4 ?-即樣品的不同層之間的峰的間距。

CVD生長(zhǎng)的二硫化鉬單層膜的形貌和KPFM

在本應(yīng)用中，使用Flex-Axiom的開爾文探針力顯微 (KPFM)對(duì)通過(guò)化學(xué)氣相沉積（CVD）生長(zhǎng)的單層MoS2進(jìn)行成像，以研究單晶上的接觸電位差變化。單層MoS 2是通過(guò)化學(xué)氣相沉積在硅基體上生長(zhǎng)的 (樣品提供: 伊利諾伊大學(xué) – Urbana-Champlain).單層膜表面接觸電位信號(hào)的不均勻性可以反映摻雜分布和其他表面缺陷。