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鏡頭式原子力顯微鏡LensAFM 電子顯微鏡

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公司名稱上海納嘉儀器有限公司
品牌
型號LensAFM
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/11/30 9:03:29
訪問次數(shù)479

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上海納嘉儀器有限公司專業(yè)致力于銷售各種科研測試類儀器與技術(shù)服務(wù)，主要代理公司的微納米級表面測量產(chǎn)品，著力為各高校，研究所以及高科技公司等單位提供集產(chǎn)品、應(yīng)用和服務(wù)于一體的整體解決方案！上海納嘉儀器有限公司主要代理多款微納米級別表面測量儀器：原子力顯微鏡&掃描探針顯微鏡，探針式輪廓儀（臺階儀，三維光學(xué)輪廓儀，色散共焦輪廓儀，光譜式橢偏儀，反射干涉儀以及各種儀器耗材等。我們秉承“為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值”的核心價(jià)值觀，并以“誠實(shí)、寬容、創(chuàng)新、服務(wù)”為企業(yè)精神，通過自主創(chuàng)新和真誠合作為行業(yè)創(chuàng)造價(jià)值。關(guān)于“為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值” 我們認(rèn)為客戶、供應(yīng)商、公司股東、公司員工等一切和自身有合作關(guān)系的單位和個(gè)人都是自己的合作伙伴，并只有通過努力為合作伙伴創(chuàng)造價(jià)值，才能體現(xiàn)自身的價(jià)值并獲得發(fā)展和成功。關(guān)于“誠實(shí)、寬容、創(chuàng)新、服務(wù)” 我們認(rèn)為誠信是一切合作的基礎(chǔ)，寬容是解決問題的前提，創(chuàng)新是發(fā)展事業(yè)的利器，服務(wù)是創(chuàng)造價(jià)值的根本。

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NanosurfLensAFM鏡頭式原子力顯微鏡擴(kuò)展您光學(xué)顯微鏡的分辨率NanosurfLensAFM是一個(gè)當(dāng)光學(xué)顯微鏡和輪廓儀達(dá)到其分辨率極*可以幫您繼續(xù)探究的原子力顯微鏡

鏡頭式原子力顯微鏡LensAFM 電子顯微鏡產(chǎn)品信息

Nanosurf LensAFM鏡頭式原子力顯微鏡

擴(kuò)展您光學(xué)顯微鏡的分辨率

Nanosurf LensAFM 是一個(gè)當(dāng)光學(xué)顯微鏡和輪廓儀達(dá)到其分辨率極*可以幫您繼續(xù)探究的原子力顯微鏡。它可以像常規(guī)物鏡一樣安裝，從而無縫擴(kuò)展了這些光學(xué)儀器的分辨率和測量能力。 LensAFM不僅提供3D表面形貌信息，還可用于分析被測樣品的各種物理特性。

用你常用的儀器進(jìn)行AFM測量

在越來越多的情境下，研究人員希望結(jié)合光學(xué)和原子力顯微鏡技術(shù)。光學(xué)顯微鏡的易用性，篩選能力和（無）樣品制備要求幾乎是的。然而，有時(shí)目標(biāo)放大100倍的是不夠的，您想更仔細(xì)地觀察一些超出儀器分辨率的微小特征。在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，您需要兩個(gè)專用儀器，并且有必要將樣品從一個(gè)設(shè)備轉(zhuǎn)移到另一個(gè)設(shè)備。使用LensAFM則不必如此。憑借其極小的設(shè)計(jì)和巧妙的安裝機(jī)制，您需要做的就是旋轉(zhuǎn)光學(xué)顯微鏡或輪廓儀上的轉(zhuǎn)盤并運(yùn)行掃描。

LensAFM將地集成到您的工作流程中：將其安裝在光學(xué)顯微鏡的轉(zhuǎn)盤上 - 就像常規(guī)物鏡一樣 - 您可以使用正常物鏡選樣品以找到感興趣的區(qū)域。隨后，使用集成的8倍光學(xué)鏡頭可以再次定位該區(qū)域，然后您可以執(zhí)行AFM測量以獲得更高分辨率的3D信息：以您慣有的方式工作，分辨率和功能卻得到極大提升。

LensAFM具有快速卸載機(jī)制，可輕松地將LensAFM安裝到轉(zhuǎn)臺和從轉(zhuǎn)臺卸下。可調(diào)安裝保證您可以以高于10μm的精度更換它。芯片安裝座上的對準(zhǔn)凹槽還可確保下一個(gè)微懸臂的位于相同位置的4μm范圍內(nèi)，即使在微懸臂更換后也能再次回到相同的特征值。由于這些對準(zhǔn)凹槽，您甚至不需要在微懸臂上執(zhí)行激光對準(zhǔn)，從而節(jié)省了額外的時(shí)間。

LensAFM 為您的光學(xué)顯微鏡帶來了所有這些測量功能，無需重新思考一整個(gè)新的工作流程。觀看視頻，了解提升您的顯微能力是多么容易。

提升光學(xué)顯微鏡的能力

由于光學(xué)顯微鏡的分辨率受光的波長限制，因此光學(xué)系統(tǒng)在可實(shí)現(xiàn)的分辨率上有一個(gè)極限。在越來越多的應(yīng)用中，就需要光學(xué)和原子力顯微鏡的組合。此外，AFM可以無障礙表征透明樣品或其他難以光學(xué)評估的樣品。且不僅僅是樣品的形貌：AFM還允許獲得其他材料特性的知識，例如，表面粗糙度，硬度變化，磁性或電導(dǎo)/電阻。