RLE-CH04 液晶空間光調制器及微光學研究實驗
實驗簡介
電尋址液晶空間光調制器(SLM)是新一代的動態(tài)光調制器件。SLM的振幅調制功能已經普遍被人所知并應用于光學投影儀中，但SLM的相位調制功能及應用是近些年才逐漸被人們重視，并應用在新一代衍射光學元件（DOE）相關科研和工程上。
本實驗是RealLight®根據光電專業(yè)學生所學的《信息光學》、《物理光學》相關課程知識點與的前沿技術相結合開發(fā)的創(chuàng)新實驗內容，適用于大學光電專業(yè)創(chuàng)新實驗課程。
實驗內容
1、液晶結構認知與像素尺寸測量；
2、液晶分子表面方向分布測量實驗；
3、液晶透過率測量實驗；
4、SLM振幅調制曲線測量實驗；
5、SLM液晶取向測量實驗；
6、SLM相位調制模式的參數測量及標定實驗；
7、微光學元件設計與測量實驗；
8、抑制黑柵效應實驗。
知識點
電尋址液晶空間光調制器（SLM）、振幅調制、相位調制、光的衍射現象（夫瑯禾費、菲涅爾）、常用光學元件庫、黑柵效應、二元光學元件（DOE）、平頂光束、拉蓋爾光束、渦輪透鏡、衍射級效率。
選配設備參數
計算機：為基本配置。
主要設備參數
1.光源組件：
固體激光器：輸出功率0~20mW，中心波長532±1nm， TEM00， M2≤1.2，光斑1mm，功率穩(wěn)定性±1%，連續(xù)輸出，帶TEC制冷。
2.空間光調制器組件：
液晶類型LCD，相位調制能力﹥1.2Pi@532nm,靶面尺寸0.63inch，像素尺寸12.5μm，填充因子﹥77%，分辨率1024×768，刷新頻率60Hz/75Hz/85Hz，工作波段400～700nm，灰度階數8位、 256 階，外形尺寸： 82×82×23.2mm，中心開口11.5x14.5mm，集成一體化設計，便于光路搭建與調整，機械材料： LY12-CZ，表面處理為噴砂氧化黑。
3.探測器組件：
可編程功率計：顯示屏顯示內容為測量波長、自動/手動量程模式、衰減窗口狀態(tài)、當前功率測量檔位；測量精度0.1μW，分辨率0.1μW，支持六擋量程；測量波長范圍380nm~1100nm，功率測量范圍0~200mW；提供實時功率顯示，長期功率檢測，并顯示測量時長、測量時間內的功率變化曲線，提供值、最小值顯示，可導出excel數據； USB2.0操作通訊接口。
CMOS相機： 130萬像素，分辨率1280×1024，黑白，逐行掃描， 1/1.8″，像素大小
5.2μm×5.2μm。
4.光學組件：
偏振片： Φ25.4mm， K9玻璃窗口， AR@400nm～700nm，消光比>400:1；
石英波片： Φ25.4mm，石英晶體，低多級設計，光潔度III級，平行度： <30"；
成像透鏡： Φ40mm， f=150mm；
分光棱鏡： 25.4mm×25.4mm×25.4mm， AR@400～700nm；
加強鋁反射鏡： Φ40mm；
可調衰減器： Φ50mm，光密度OD0～3.0。
5.機械組件：
精密光學導軌： L×W=1200mm×90mm，配套滑塊、一維移動滑塊，調節(jié)支座、支桿；高精度調節(jié)鏡架，穩(wěn)定性<2′。
6.空間濾波器組件：
40×顯微物鏡， 25μm針孔，精密三維調整機構，微調精度0.002mm。
7.軟件組件：
常用衍射光學元件庫，微光學元件設計模塊，黑柵效應抑制模塊（線性補償、數字菲涅耳補償）， USB2.0軟件鎖。
8.實驗手冊及保修卡。
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