產(chǎn)品綜述
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品包括3672A（10MHz～13.5GHz）、3672B（10MHz～26.5GHz）、3672C（10MHz～43.5GHz）、3672D（10MHz～50GHz）和3672E（10MHz～67GHz）。3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供頻響、單端口、響應(yīng)隔離、增強(qiáng)型響應(yīng)、全雙端口、電校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)方式，內(nèi)設(shè)對(duì)數(shù)幅度、線性幅度、駐波、相位、群時(shí)延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，外配USB、LAN、GPIB、VGA等多種標(biāo)準(zhǔn)接口，除具有傳統(tǒng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的全部測(cè)量功能外，還可以通過(guò)配置功能選件進(jìn)行混頻器/變頻器、增益壓縮二維掃描以及脈沖狀態(tài)下S參數(shù)的多功能綜合參數(shù)測(cè)試，能精確測(cè)量微波網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性、相頻特性和群時(shí)延特性。該產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于發(fā)射/接收（T/R）模塊測(cè)量、介質(zhì)材料特性測(cè)量、微波脈沖特性測(cè)量和光電特性測(cè)量等領(lǐng)域，是雷達(dá)、通信、導(dǎo)航等系統(tǒng)的科研、生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試設(shè)備。
功能特點(diǎn)
校準(zhǔn)類(lèi)型靈活可選，兼容多種校準(zhǔn)件
支持多窗口、多通道測(cè)量，快速執(zhí)行復(fù)雜測(cè)試方案
具有對(duì)數(shù)幅度、線性幅度、駐波、Smith圓圖等多種顯示格式
具有USB、GPIB、LAN和VGA接口
中/英文操作界面，12.1英寸1280*800高分辨率多點(diǎn)觸控顯示屏
錄制/運(yùn)行，一鍵式操作簡(jiǎn)化測(cè)量設(shè)置步驟，提高工作效率
具有一體化脈沖S參數(shù)測(cè)量、時(shí)域測(cè)量、混頻器測(cè)量、增益壓縮二維掃描測(cè)量、支持THz擴(kuò)頻、天線與RCS測(cè)量接收等功能
人性化用戶界面簡(jiǎn)潔直觀，便于操作，可提高測(cè)試效率
校準(zhǔn)類(lèi)型靈活可選，兼容多種校準(zhǔn)件
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供向?qū)?zhǔn)（自動(dòng)化校準(zhǔn)）、非向?qū)?zhǔn)（使用機(jī)械校準(zhǔn)件進(jìn)行直通響應(yīng)校準(zhǔn)、直通響應(yīng)與隔離校準(zhǔn)、單端口校準(zhǔn)、增強(qiáng)型響應(yīng)校準(zhǔn)、全雙端口SOLT校準(zhǔn)、TRL校準(zhǔn)）、電校準(zhǔn)（ECal）等多種校準(zhǔn)類(lèi)型，可根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要選擇同軸3.5mm校準(zhǔn)件以及電子校準(zhǔn)件等多種校準(zhǔn)件，方便不同接口類(lèi)型器件的測(cè)試。
多窗口顯示所有測(cè)量通道
本產(chǎn)品具有多通道和多窗口顯示功能，最多支持64個(gè)通道，最多可同時(shí)顯示16個(gè)測(cè)量窗口，每個(gè)窗口最多可同時(shí)顯示8條測(cè)試軌跡，使觀測(cè)結(jié)果更加直觀，用戶使用更加方便。
錄制功能實(shí)現(xiàn)一鍵自動(dòng)化測(cè)試
記錄用戶在使用儀器過(guò)程中所有操作步驟，同時(shí)可以隨時(shí)插入用戶編輯的提示對(duì)話框，并且準(zhǔn)時(shí)彈出提示對(duì)話框，等待用戶確認(rèn)，實(shí)現(xiàn)用戶交互功能，真正實(shí)現(xiàn)了智能儀器一鍵自動(dòng)化功能。
大動(dòng)態(tài)范圍
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用混頻接收的設(shè)計(jì)理念，有效擴(kuò)展整機(jī)的測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍，可以滿足您對(duì)大動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)試需求。
外設(shè)接口豐富，靈活實(shí)用
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用兼容PC的嵌入式計(jì)算機(jī)模塊和Windows操作系統(tǒng)組成的軟硬件平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試儀器和個(gè)人計(jì)算機(jī)的結(jié)合。用戶可以利用豐富的I/O接口（包括GPIB、USB和LAN等）完成數(shù)據(jù)通訊的測(cè)試。
跡線噪聲小，測(cè)量精度高
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀優(yōu)異的跡線噪聲指標(biāo)極大地提高了整機(jī)的測(cè)試精度，可滿足用戶精確測(cè)量的需要，特別有助于小插損器件的精確測(cè)量。（下圖以3672B為例）
時(shí)域分析
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可通過(guò)配置時(shí)域測(cè)量選件實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果頻域和時(shí)域之間的切換，用以確定器件、夾具或者電纜中的不連續(xù)點(diǎn)位置，實(shí)現(xiàn)故障點(diǎn)精確定位。
高級(jí)時(shí)域分析（TDR選件）
隨著信息產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展，對(duì)網(wǎng)絡(luò)帶寬的需求也越來(lái)越高，需要信息設(shè)備（如大型服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和交換機(jī)等）能夠承載的數(shù)據(jù)速率越來(lái)越快。信息設(shè)備生產(chǎn)商對(duì)高速互連通道中的信號(hào)完整性問(wèn)題也愈發(fā)重視，傳輸鏈路的特性變化會(huì)顯著的影響信號(hào)傳輸質(zhì)量，高級(jí)時(shí)域分析選件是評(píng)價(jià)高速鏈路信號(hào)傳輸質(zhì)量的重要手段。
TDR時(shí)域阻抗測(cè)試，可以精準(zhǔn)測(cè)試傳輸線上阻抗特性的變化情況，定位不連續(xù)性。
便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測(cè)試，可同時(shí)分析時(shí)域和頻域數(shù)據(jù)，用于測(cè)試多條傳輸線之間的相互影響的程度。
高級(jí)時(shí)域分析選件提供基于S參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。仿真碼型輸出單元用于產(chǎn)生0、1變化的數(shù)據(jù)位，把仿真碼型和被測(cè)件的時(shí)域沖激響應(yīng)進(jìn)行卷積，疊加后得到虛擬眼圖。
根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn)，高級(jí)時(shí)域分析選件可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進(jìn)行高效率Pass/Fail測(cè)試。
高級(jí)時(shí)域分析選件可以在仿真眼圖上施加抖動(dòng)、噪聲等干擾，通過(guò)預(yù)加重和均衡等校正算法的加入，模擬真實(shí)環(huán)境下高速鏈路不同位置的仿真眼圖。
自動(dòng)夾具移除功能，實(shí)現(xiàn)非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測(cè)試
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)量對(duì)象涉及到非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件，如封裝微波器件、在片器件等。此類(lèi)器件的特點(diǎn)是無(wú)法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。使用夾具可以將被測(cè)件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上，但同時(shí)也引入了夾具誤差。自動(dòng)夾具移除功能可以進(jìn)行夾具參數(shù)的提取、存儲(chǔ)以及夾具去嵌入，以獲得被測(cè)件的真實(shí)參數(shù)，其操作簡(jiǎn)便，精度高。
進(jìn)行夾具的描述時(shí)，可以設(shè)置單端夾具及差分夾具，也可以選擇夾具的端口數(shù)等信息。進(jìn)行夾具參數(shù)的提取，需要對(duì)夾具標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。在標(biāo)準(zhǔn)描述界面，夾具標(biāo)準(zhǔn)包含三種類(lèi)型：直通標(biāo)準(zhǔn)、開(kāi)路標(biāo)準(zhǔn)、短路標(biāo)準(zhǔn)。
利用自動(dòng)夾具移除功能，把被測(cè)件作為一個(gè)整體，進(jìn)行平衡參數(shù)提取，并進(jìn)行四端口的去嵌入。測(cè)試結(jié)果顯示，傳輸參數(shù)能夠很好的去除掉，同樣近端串?dāng)_和遠(yuǎn)端串?dāng)_也得到有效去除。
典型應(yīng)用
增益壓縮二維掃描，提高測(cè)試效率
放大器等有源器件的增益壓縮測(cè)量應(yīng)用（S86選件）僅需一次設(shè)置，一次連接，一次校準(zhǔn)就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)（包括壓縮點(diǎn)的輸入功率，壓縮點(diǎn)的輸出功率，壓縮點(diǎn)的增益等）和線性參數(shù)（包括線性增益，輸入匹配，輸出匹配等）。具有：
快速準(zhǔn)確的智能掃描；
一目了然的向?qū)?zhǔn)；
方便快捷的USB電子校準(zhǔn)，USB功率校準(zhǔn)；
二維掃描（頻率點(diǎn)掃功率和功率點(diǎn)掃頻率）一次完成；
多種壓縮方法——從線性/增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。
混頻器/變頻器測(cè)試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀四端口測(cè)量功能選件（400、S82、S83、S84選件）具有內(nèi)置雙源，可以完成混頻器/變頻器標(biāo)量和矢量參數(shù)測(cè)試。
1）混頻器/變頻器標(biāo)量參數(shù)測(cè)量
混頻器/變頻器標(biāo)量測(cè)量應(yīng)用選件（S82選件）可以得到頻域的所有標(biāo)量參數(shù)（包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等）。相比以往測(cè)試方法其優(yōu)勢(shì)在于：
一次連接設(shè)置，多參數(shù)測(cè)試一次性完成；
人性化簡(jiǎn)易的校準(zhǔn)界面；
方便快捷的USB電子校準(zhǔn)，USB功率校準(zhǔn)；
內(nèi)置雙激勵(lì)源，無(wú)需額外信號(hào)源提供本振信號(hào)；
基于端口匹配的功率校準(zhǔn)技術(shù)；
為用戶解決高準(zhǔn)確度的混頻器標(biāo)量參數(shù)測(cè)試需求。
2）混頻器/變頻器矢量參數(shù)測(cè)量
矢量混頻/變頻器件測(cè)試應(yīng)用選件（S83選件）集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率（正向及反向）、駐波、相位及群時(shí)延等參數(shù)測(cè)量于一體的測(cè)試應(yīng)用軟件。其主要特點(diǎn)包括：
測(cè)量過(guò)程需使用一個(gè)參考混頻器進(jìn)行表征；
內(nèi)置雙激勵(lì)源，無(wú)需額外信號(hào)源提供本振信號(hào)；
測(cè)試參數(shù)全面，相比于標(biāo)量混頻器測(cè)試增加了相位及群時(shí)延等參數(shù)的測(cè)試功能。
濾波器測(cè)試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有濾波器測(cè)試菜單，可以得到濾波器在頻域的所有通帶指標(biāo)（包括帶寬，中心頻點(diǎn)頻率、Q值，左截止頻率、右截止頻率等）和阻帶指標(biāo)（包括動(dòng)態(tài)范圍，隔離度等）。具有：
快速準(zhǔn)確的分段掃描；
一目了然的校準(zhǔn)向?qū)В?/span>
快捷的高精度電子校準(zhǔn)技術(shù)；
通帶和阻帶指標(biāo)一次測(cè)量完成。
一體化脈沖S參數(shù)測(cè)試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有脈沖調(diào)制信號(hào)輸出，可以完成脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測(cè)試。具有：
內(nèi)置四通道脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器，端口1、3可輸出脈沖調(diào)制信號(hào)；
完整的脈沖解決方案，可在寬帶模式和窄帶模式下進(jìn)行脈沖內(nèi)定點(diǎn)、脈沖包絡(luò)和掃頻脈沖測(cè)量；
可與外部脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器同步，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜脈沖同步測(cè)試。
自動(dòng)化測(cè)試
通過(guò)GPIB總線接口、網(wǎng)口提供靈活多樣的控制方式，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可。為您提供一體化自動(dòng)測(cè)試方案，包括自動(dòng)校準(zhǔn)、自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)讀取、自動(dòng)打印等。具有：
簡(jiǎn)單的控制方式，一根網(wǎng)線、一個(gè)GPIB卡；
有效的降低成本，解放有限的人力資源；
在有效的時(shí)間內(nèi)完成更多的測(cè)試，大大縮短開(kāi)發(fā)周期；
完成人工不可能完成的任務(wù)，如精確時(shí)間控制，復(fù)雜環(huán)境下的測(cè)試等。
噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測(cè)試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀噪聲系數(shù)選件（003選件），結(jié)合矢量誤差修正和*的源端調(diào)配校準(zhǔn)方法，提供高精度的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測(cè)量功能。
噪聲系數(shù)測(cè)量選件（003選件）可以得到被測(cè)件的噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、噪聲功率參數(shù)和噪聲相關(guān)矩陣，相比以往測(cè)試方法其優(yōu)勢(shì)在于：
一次連接設(shè)置，噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)和S參數(shù)等多種參數(shù)測(cè)試一次性完成；
較小噪聲系數(shù)的精確測(cè)量；
測(cè)量范圍大（0dB~55dB）；
可用于芯片在片噪聲系數(shù)的精確測(cè)量；
可用于夾具、測(cè)試系統(tǒng)等場(chǎng)景下噪聲系數(shù)的精確測(cè)量。
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