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鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 3000

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱深圳市森東寶科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2021/7/18 20:28:27
  • 訪問次數(shù)459
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深圳市森東寶科技有限公司(Cindbest)是一家專業(yè)從事探針臺設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,并集成代理相關(guān)實驗室設(shè)備的綜合性。主營產(chǎn)品有:探針臺、激光測試儀、GGB高頻微波探針、蜂窩式光學(xué)平臺、I-V/C-V參數(shù)測試儀、3D白光干涉儀等相關(guān)實驗室設(shè)備,其中探針臺系列產(chǎn)品均已獲得國家,同時通過運用現(xiàn)代質(zhì)量管理的科學(xué)理念和*方法,我司順利通過了ISO9001質(zhì)量管理體系認證,并且為深圳市質(zhì)量檢驗協(xié)會的理事單位之一。 Cindbest總部位于廣東省深圳市,并在香港、上海、長沙、西安、成都等城市均設(shè)有銷售網(wǎng)點,公司成立至今,已合作過近200家高校(含國內(nèi)95%的985,211高校),30多家科研院所以及20多家半導(dǎo)體行業(yè)大型公司,與此同時Cindbest已成長為國內(nèi)探針臺的主要生產(chǎn)供應(yīng)商。 公司秉持著“以客戶為本,以實現(xiàn)實驗?zāi)康?,助力中國半?dǎo)體發(fā)展為目標”的經(jīng)營理念發(fā)展前行。憑借優(yōu)秀的產(chǎn)品、高質(zhì)量的服務(wù)、高度認真負責的態(tài)度,全面打造公司的核心競爭力,為客戶和社會創(chuàng)造價值,贏得了廣大客戶和社會的*.
光學(xué)平臺
鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 3000
鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 3000 產(chǎn)品信息



鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 3000

TF ANALYZER 3000E是一款擴展性*的高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。


模塊化設(shè)計的TF Analyzer 3000具有優(yōu)異的擴展性。
  • FE模塊-鐵電標準測試;
  • MR模塊-磁阻和鐵性材料測試;
  • RX模塊-弛豫電流測試;
  • DR模塊-自放電測試。


測試基本單元:包括內(nèi)置完整的專用計算機主機和測試版路、運算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。

FE模塊標準測試功能:
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率(增強型FE模塊250kHz,高速增強型FE模塊1MHz);
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試;
PUND 脈沖測試;
Fatigue 疲勞測試;
Retention 保持力;
Imprint 印跡;
Leakage current漏電流測試;
Thermo Measurement 變溫測試功能。

FE模塊可選測試功能:
C-V curve電容-電壓曲線;
Piezo Measurement壓電性能測試;
Pyroelectric Measurement熱釋電性能測試;
In-situ Compensation 原位補償;
DLCC 動態(tài)漏電流補償功能;
Impedance Measurement 阻抗測試 (僅適用于高速增強型)。

技術(shù)說明:
電壓范圍: +/- 25 V(可選的附加高壓放大器可擴展至+/- 10KV);
電滯頻率:增強型FE模塊250kHz,高速增強型FE模塊1MHz;
最小脈沖寬度:50ns;
最小上升時間:10ns;
疲勞頻率:16MHz;
電流放大范圍:1pA~1A;
負荷電容:1nF;
輸出電流峰值:+/-1 A。

可擴展部件:
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。



MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵和測試,樣品上的電壓降通過高精度四點測試。


RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。


DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測試條件非常接近實際情況,因此通過這種方式可容易地測試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。


針對工業(yè)方面的應(yīng)用,TF Analyzer 3000提供了256個自動測試的通道,大大擴展了該儀器的測試功能。


以上所有的模塊可根據(jù)您的測試需求以及科研方向進行獨立選擇或者任意組合。









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