IGBT靜態(tài)測試儀參數(shù)
參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | 精度 |
ICES IGESF IGESR | 0.10V- 2000V 0.10V - 20V(80V)(2) | 100nA(100pA)(1) - 50mA 100nA(100pA)(1)- 3A | 1nA(50pA)(1) | 1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)(1) |
BVCES | 0.1V-1000V- 1400V - 1600V | 100μA - 200mA -100mA -50mA | 5mV | 1%+100mV |
VGETH | 0.10V- 20.0V(80V)(2) | 100nA- 3A | 5mV | 1%+10mV |
VCESAT ICON VGEON VF GFS(混合參數(shù)) | VCE: 0.10V- 5.00V - 9.99V VGE、VF: 0.10V - 9.99V | IC: 10μA-1250A - 1250A IGE、IF: 100nA - 10A | 5mV | V: 1%+10mV IC,IF: 1%+100nA IGE: 1%+5nA |
IGBT靜態(tài)測試儀 主要特征簡述:
1、半導(dǎo)體分立器件測試儀產(chǎn)品目前已通過國內(nèi)兩家計(jì)量站的綜合檢測認(rèn)定。經(jīng)過與國內(nèi)其他測試系統(tǒng)對比使用,測試系統(tǒng)在系統(tǒng)硬件的可靠性、穩(wěn)定性、功率范圍、測試范圍、系統(tǒng)測試精度、測試參數(shù)的一致性等多項(xiàng)指標(biāo)已遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過國內(nèi)產(chǎn)品。 測試系統(tǒng)目前是國內(nèi)的半導(dǎo)體分立器件測試測試儀器。
2、作為精密儀器引進(jìn)項(xiàng)目,系統(tǒng)嚴(yán)格按照產(chǎn)品之標(biāo)準(zhǔn),全部選用可靠的元器件。系統(tǒng)嚴(yán)格按照檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試檢驗(yàn),確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。所使用的各種繼電器,全部采用國外公司生產(chǎn)的水銀繼電器,從而大大提高了系統(tǒng)的測試速度,提高了系統(tǒng)的使用壽命。
3、服務(wù)周到是我公司的優(yōu)勢之一。選用本系統(tǒng),我們的服務(wù)可以在一小時(shí)內(nèi)答復(fù)解決方案,到達(dá)用戶現(xiàn)場當(dāng)天解決系統(tǒng)出現(xiàn)的所有問題。
4、在實(shí)際操作中,可真實(shí)達(dá)到電壓2000V、電流50A的測試條件。在極限值條件下測試,系統(tǒng)同樣保持高精度和良好的重復(fù)性、穩(wěn)定性。。
5、本系統(tǒng)測試原理和方法符合國家相關(guān)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)。
6、大功率器件測試采用脈沖法測試,脈沖寬度為規(guī)定的300uS。
7、系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì),升級能力強(qiáng)。為用戶今后做系統(tǒng)升級提供了有力的技術(shù)保障。系統(tǒng)硬件支持電壓升級到5000V,電流升級到1250A。
8、系統(tǒng)采用嵌入式計(jì)算機(jī)結(jié)構(gòu),可以實(shí)現(xiàn)脫機(jī)測試功能。提高了系統(tǒng)的可靠性和使用靈活性。
9、系統(tǒng)和測試夾具全部采用多級開爾文技術(shù),采用無電纜連接設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。各種測試夾具均由高級器件插座和高級插頭采用開爾文技術(shù)連接裝配,不僅確保長壽命工作,可靠性*,*使用壽命在5X106次以上。使測試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確無誤。
10、系統(tǒng)具有被測器件引腿接觸自動判斷功能。遇到器件接觸不良時(shí)系統(tǒng)自動停止對被測器件測試,可確保被測器件不受損壞。
11、真正的動態(tài)跨導(dǎo)測試。(國內(nèi)其他系統(tǒng)采用直流方法測動態(tài)跨導(dǎo),測試結(jié)果與器件實(shí)際值偏差很大)。
12、二極管極性自動判別測試功能,不需人工判別極性測試,方便操作。
13、具有單參數(shù)測試延時(shí)編程功能,用戶可根據(jù)不同器件要求選擇延遲時(shí)間,增強(qiáng)參數(shù)測試穩(wěn)定性。