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JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時間質(zhì)譜儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2018/11/12 15:07:31
訪問次數(shù)735

產(chǎn)品標(biāo)簽:

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捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司是日本電子株式會社（JEOL Ltd. 以下簡稱JEOL）在中國成立的一家獨資公司，其前身是日本電子株式會社北京事務(wù)所，業(yè)務(wù)范圍主要負(fù)責(zé)JEOL產(chǎn)品在中國地區(qū)的銷售、售后業(yè)務(wù)。JEOL是世界科學(xué)儀器制造商，成立于1949 年，總部設(shè)在日本東京都昭島市武藏野3丁目1番2號，是東京*證券交易所上市企業(yè)；事業(yè)范圍主要有電子光學(xué)儀器、分析儀器、測試檢查儀器、半導(dǎo)體設(shè)備、工業(yè)設(shè)備、醫(yī)療儀器等制造、銷售和研發(fā)；其中電子光學(xué)儀器主要有透射電鏡、掃描電鏡、電子探針、俄歇電鏡、光電子能譜及其周邊設(shè)備等。
捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司的注冊地點在北京市海淀區(qū)中關(guān)村南三街6號中科資源大廈南樓二層。目前中國的在職員工150人左右，五個辦事處分別設(shè)在北京、上海、廣州、武漢和成都；北京、上海、廣州設(shè)有維修站，同時沈陽、成都、武漢、西安分別設(shè)立維修人員常駐，為國內(nèi)的客戶提供產(chǎn)品宣傳推廣和及時周到的售后服務(wù)；北京和上海還設(shè)有演示中心。目前在國內(nèi)銷售的產(chǎn)品主要有高性能球差校正透射電鏡、場發(fā)射透射電鏡、Lab6透射電鏡、高分辨場發(fā)射掃描電鏡、常規(guī)掃描電鏡、電子探針、核磁共振譜儀、電子自旋共振譜儀、質(zhì)譜等設(shè)備。
捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司北京辦事處占地1400平米，有銷售部、售后部、應(yīng)用部、*和總務(wù)部。特別是應(yīng)用部，負(fù)責(zé)用戶應(yīng)用培訓(xùn)、技術(shù)指導(dǎo)、樣品測試等工作，北京演示中心安裝各種設(shè)備10余臺，用戶來現(xiàn)場可以從制作樣品到上機測試一氣呵成；應(yīng)用部還定期舉辦掃描電鏡和透射電鏡的應(yīng)用培訓(xùn)，深得用戶好評。售后部具有穩(wěn)定的維修團隊，肩負(fù)國內(nèi)用戶的儀器安裝及維修工作。
捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司每年在中國簽署的合同量保持在150臺左右，*穩(wěn)定。公司經(jīng)營宗旨：以創(chuàng)造和開發(fā)為本，不斷向世界高水平技術(shù)挑戰(zhàn)，并通過產(chǎn)品貢獻于科學(xué)進步及社會發(fā)展。

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電子顯微鏡，生物顯微鏡，金相顯微鏡，

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JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時間質(zhì)譜儀產(chǎn)品性能進一步改進, 升級為AccuTOF GCx! 將在更廣泛的領(lǐng)域為您提供分析解決方案。

JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時間質(zhì)譜儀產(chǎn)品信息

JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時間質(zhì)譜儀

◇ 通過高精度的精確質(zhì)量測試推測元素的組成

AccuTOF GCx 能長時間且穩(wěn)定地進行高靈敏度, 高分辨率, 高質(zhì)量準(zhǔn)確度的測試。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有高數(shù)量級的動態(tài)范圍, 在同一譜圖內(nèi)不管是測試基峰還是小峰, 質(zhì)量準(zhǔn)確度都非常高, 因此能準(zhǔn)確地推測分子離子和碎片離子的元素組成, 基于寬動態(tài)范圍還能容易地對不同濃度的混合樣品進行GC/MS 測試。

◇ 高分辨率

高質(zhì)量準(zhǔn)確度（不同濃度下的同一個離子峰)

八氟萘

長時間的穩(wěn)定性

◇ 高靈敏度

連續(xù)測試八次100fg 八氟萘（OFN) 后, 由EIC中的積分面積標(biāo)準(zhǔn)偏差計算出儀器的檢出限（IDL）為16fg。
CV ：相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 IDL ：儀器檢出限

◇ 寬質(zhì)量范圍

用Direct TOFMS也能測試低聚物

AccuTOF GCx 不僅具有寬質(zhì)量范圍, 還有多種直接進樣系統(tǒng), 可以測試GC無法進樣測試的大分子量樣品。

聚苯乙烯5200 的FD 質(zhì)譜圖

◇ 多種電離方法和進樣技術(shù)

FI 法和FD 法較適合于確認(rèn)分子量的軟電離方式

FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內(nèi)部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此較適合于確認(rèn)分子量。

FI（Field Ionization ：場電離）法

JMS-T200GC 氣相色譜-飛行時間質(zhì)譜儀通過GC 或標(biāo)準(zhǔn)樣品進樣口能將樣品導(dǎo)入離子源。CI 源需要依據(jù)待測對象化合物選擇試劑氣體種類, 但FI 源不需要。

軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。

FD（Field Desorption ：場解吸）法

將樣品直接涂在發(fā)射體上。

很適合分析熱不穩(wěn)定化合物。

很適合于可溶于非極性溶劑的樣品

能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品

能測試低～中極性的金屬絡(luò)合物。

能分析一般GC/MS 無法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。

對難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。

◇ EI/FI/FD 復(fù)合離子源（選配件）

同一個離子源可以使用EI 法（硬電離方式）和 FI/FD 法（軟電離方式）?？珊唵窝杆俚厍袚QEI 和 FI/FD電離方式。

直接進樣方式（選配件）

根據(jù)用途備有兩種直接進樣桿，電離方法可以選擇EI 和CI。

DEP (Direct Exposure Probe) : 較適合高沸點化合物 / 熱不穩(wěn)定化合物, 將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲*。

DIP (Direct Insertion Probe): 較適合于高沸點化合物及不溶于溶劑的樣品,固體樣品可以直接放入的玻璃樣品管

EI 和FI 結(jié)合的定性分析

對EI的質(zhì)譜圖可用譜庫檢索，根據(jù)碎片離子的成份推斷可獲得結(jié)構(gòu)信息。另一方面根據(jù)FI檢測出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過綜合來自EI和FI的信息，就可以進行高度準(zhǔn)確的定性分析而不必單純地依賴譜庫檢索，這種組合技術(shù)對于雜質(zhì)等未知成分的定性分析非常有效。

關(guān)鍵詞：氣相色譜質(zhì)譜儀