詳細(xì)摘要： 用于多樣化應(yīng)用的高精度工業(yè)CT系統(tǒng)FF85CT計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)配有兩套射線管，能夠覆蓋絕大部分的材料類型和部件尺寸，并獲得的高精度檢測(cè)結(jié)果

詳細(xì)摘要： 高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng)FF70CL適用于全自動(dòng)分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中...

詳細(xì)摘要： 適用于中小型部件檢測(cè)的高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)Y.FF35CT計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)應(yīng)用范圍廣，設(shè)計(jì)用于獲取高精度檢測(cè)結(jié)果

詳細(xì)摘要： 適用于小型部件檢測(cè)的高分辨率工業(yè)CT系統(tǒng)Y.FF20CT計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于實(shí)現(xiàn)高精度的三維檢測(cè)結(jié)果

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品簡介：名稱：航空發(fā)動(dòng)機(jī)盤/環(huán)/軸類C-掃描檢測(cè)系統(tǒng)品牌/產(chǎn)地：美國型號(hào)：定制應(yīng)用：針對(duì)航空發(fā)動(dòng)機(jī)專門開發(fā)的一套自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)

詳細(xì)摘要： Tablet-UT掌上超聲系統(tǒng)

詳細(xì)摘要： 適用于全自動(dòng)檢查IC包裝缺陷的高分辨率三維X射線檢測(cè)系由于晶片、基板、帶材上或最終產(chǎn)品的組件中存在缺陷，因而在半導(dǎo)體制造中，需借助自動(dòng)化、高質(zhì)量、可靠、快速的無...

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品簡介：名稱：水浸式超聲C掃描系統(tǒng)型號(hào)：UPK-T10，UPK-T24，UPK-T36，UPK-T48，UPK-T60，UPK-T72等

詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹：名稱：超聲波掃描顯微鏡型號(hào)：V-400E產(chǎn)地：德國應(yīng)用：晶圓面處分層缺陷

詳細(xì)摘要： 為封裝和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用打造的緊湊型X射線檢測(cè)系統(tǒng)Y.CougarEVO被設(shè)計(jì)用于為SMT，半導(dǎo)體和實(shí)驗(yàn)室封裝應(yīng)用領(lǐng)域提供同級(jí)別產(chǎn)品中的檢測(cè)解決方案