超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡 - neaSNOM系統(tǒng)

超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡 - neaSNOM系統(tǒng)

neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了化的散射式核心設(shè)計(jì)技術(shù)，極大的提高了光學(xué)分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi)，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性。neaSNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點(diǎn)研究方向的科研設(shè)備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。

技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢：

•neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品

•保護(hù)的散射式近場光學(xué)測量技術(shù)

——的*10 nm空間分辨率

•的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)

——在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持*的信噪比

•保護(hù)的干涉式近場信號探測單元

•的贗外差干涉式探測技術(shù)

——能夠獲得對近場信號強(qiáng)度和相位的同步成像

•保護(hù)的反射式光學(xué)系統(tǒng)

——用于寬波長范圍的光源：可見、紅外以至太赫茲

•高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，

——同時(shí)優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量

•雙光束設(shè)計(jì)

——*的光學(xué)接入角：水平方向180°，垂直方向60°

•操作和樣品準(zhǔn)備簡單

——僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程

超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡原理介紹和功能介紹視頻：

重要應(yīng)用領(lǐng)域：