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電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī) 詳細(xì)摘要: 電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào):HY(IC) 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-08-05 參考價(jià): 面議 在線留言
上海衡翼精密儀器有限公司 |
詳細(xì)摘要: 電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
產(chǎn)品型號(hào):HY(IC) 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-08-05 參考價(jià): 面議 在線留言