詳細摘要： 元器件熱沖擊用于測試電子產(chǎn)品，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機，電腦，太陽能組件等產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以...