上海百賀儀器科技有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 拉力試驗(yàn)機(jī),顯微鏡,硬度計(jì)

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聯(lián)人:
袁小姐
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劍川路951號(hào)滄源科技園A樓
編:
200240
鋪:
http://xingweiyishu.cn/st21369/
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日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市

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更新時(shí)間:2024-05-10 07:58:31瀏覽次數(shù):143

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明是制藥網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

【簡(jiǎn)單介紹】
日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
【詳細(xì)說明】

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品編號(hào): 所屬品牌: 日本電子
產(chǎn)品型號(hào): JSM-IT510 InTouchScope™ 額定功率:按實(shí)際方案提供
所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 顯微觀察
應(yīng)用領(lǐng)域: 所有工業(yè)領(lǐng)域
產(chǎn)品特性:
下載相關(guān)資料

日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠也是的。 在這些場(chǎng)景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡(jiǎn)單 SEM”功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

NEW 簡(jiǎn)單 SEM

只需選擇目標(biāo)視野

“簡(jiǎn)單 SEM”支持日常工作

樣品:電子元件
加速電壓:15 kV,放大倍數(shù):×50(上部) ×1,000(下部),信號(hào): BE


樣品交換導(dǎo)航

從樣品交換引導(dǎo)至自動(dòng)觀察 安全簡(jiǎn)單!

1. 按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品

測(cè)量樣品高度

2. 準(zhǔn)備抽真空觀察

*1樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)(SNS)是選配件

*2大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)(SNSLS)是選配件

*3樣品室相機(jī)(CS)是選配件

3. 自動(dòng)開始觀察

真空完成后自動(dòng)成像

Zeromag

輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無縫轉(zhuǎn)換

Zeromag 功能簡(jiǎn)化了導(dǎo)航,提供從光學(xué)圖像到 SEM 圖像的無縫過渡。

SEM、光學(xué)圖像和樣品臺(tái)示意圖全部鏈接在一起,以獲得分析位置的全局視圖。

樣品:菊石化石 加速電壓:7kV 信號(hào):BE

實(shí)時(shí)分析/實(shí)時(shí)引導(dǎo)圖*2

1. SEM觀察的同時(shí)掌握該區(qū)域的元素組成

實(shí)時(shí)分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時(shí)顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。

2. 簡(jiǎn)單分析

最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析

多種高級(jí)選項(xiàng)

1. NEW 低真空混合二次電子探測(cè)器(LHSED)*

該新型探測(cè)器可以收集電子和光子信號(hào),并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

2. NEW 實(shí)時(shí)3D*

新多向分割BE探測(cè)器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。

即使樣品具有細(xì)微的表面起伏,實(shí)時(shí)3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來,并獲取其深度信息。

樣品:螺釘 加速電壓:15kV 放大倍數(shù):x100 信號(hào):BE

3. 蒙太奇

蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

樣品:菊石化石

加速電壓:15kV 放大倍數(shù):x150 信號(hào):BE 視野數(shù):13 x 13

4. 顯示信號(hào)深度

此功能實(shí)時(shí)顯示被測(cè)樣品的分析深度(近似數(shù)值),對(duì)元素分析非常有用。

SEM規(guī)格

分辨率 高真空模式:3.0nm(30kV),15.0nm(1.0kV);低真空模式:4.0nm(30kV、BED)
放大倍數(shù) x5 至 x300,000
電子槍 鎢燈絲,全自動(dòng)電子槍調(diào)準(zhǔn)
加速電壓 0.3kV~ 30kV
探針電流 1pA~1uA
LV壓力調(diào)節(jié) 10~650Pa
物鏡光闌 4檔,帶XY微調(diào)功能
自動(dòng)功能 燈絲飽和點(diǎn)調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整、電子束對(duì)中調(diào)整、聚焦/散光/亮度/襯度調(diào)整
樣品尺寸 200mm直徑 x 75mm高
樣品臺(tái) 大型全對(duì)中樣品臺(tái) X: 125mm Y:100mm Z:80mm 傾斜:-10~90° 旋轉(zhuǎn):360°
圖像模式 二次電子像、REF像、成分像、形貌像、陰影像
圖像尺寸 640 x 640、1280 x 960、 2560 x 1920、 5120 x 3840
照片輔助功能 蒙太奇、簡(jiǎn)單SEM、Zeromag、實(shí)時(shí)3D
操作支持功能 菜單(標(biāo)準(zhǔn)菜單/自定義菜單),測(cè)量、樣品交換導(dǎo)航、信號(hào)深度功能、3D測(cè)量*
操作系統(tǒng) Win10 64位
顯示器 23.8英寸觸控面板
語言切換 日語、英語、中文(可在用戶界面上操作)
真空系統(tǒng) 全自動(dòng)、TMP、RP



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