步入式恒溫恒濕試驗箱

步入式恒溫恒濕試驗箱

步入式恒溫恒濕試驗箱--產品用途

步入式環(huán)境試驗箱能用于測試大的元件、裝配件和成品，包括從計算機、復印機到汽車,甚至是人造衛(wèi)星等大范圍的溫度、濕度的環(huán)境測試,除了用于產品的溫濕度試驗和特定條件下的儲存,這些試驗箱還能為食品加工、藥物硏究和其它科學應用創(chuàng)造—實驗的環(huán)境。

步入式恒溫恒濕試驗箱--結構特點

步入式恒溫恒濕試驗箱具有試驗空間大、可靠性要求高、溫濕度范圍廣、綜合環(huán)境參數多試驗條件復雜。操作人員可以進入試驗室對試驗品進行操作的特點，為工業(yè)生產廠家的批量或者大型零件、半成品、成品提供了溫（濕）度環(huán)境測試的條件。

步入式恒溫恒濕試驗箱—性能特點

采用易于運輸和現場安裝的拼板式庫板，接縫處采用氬弧焊,可根據用戶需要提供各種尺寸規(guī)格的產品；

科學的空氣流通設計，使室內溫濕度均勻，避免任何死角；

溫濕度控制選用嵌入式計算機系統(tǒng),實現遠程監(jiān)控系統(tǒng)；10.4屏幕真彩觸摸屏自動化程度高，操作簡單；

每個產品都根據客戶的要求訂做，動力室和試驗箱體分離的設計,隔離噪音,Ｖち松璞傅氖視瞇院透咝?、秸樮?#65533;

省耗節(jié)能，的冷凍回路。

步入式恒溫恒濕試驗箱--符合標準

GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件 　

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件 　　

GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備/GB/T5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

GB/T 5170.18-2005電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化

GB/T 2423.34-2012/IEC60068-2-38：2009 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗

GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67：1995環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗

GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗 第3部分:支持文件及導則 低溫和高溫試驗

GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5：2001電工電子產品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認

GB/T 2424.6-2006/IEC 60068-3-6：2001電工電子產品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認

GB/T 2424.7-2006/IEC 60068-3-7：2001電工電子產品環(huán)境試驗 試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量

GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第３部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗

GJB 360B-2009中的方法103 穩(wěn)態(tài)濕熱試驗和方法106 耐濕試驗

步入式恒溫恒濕試驗箱--規(guī)格與技術參數（可制作非標尺寸）