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詳細(xì)介紹
產(chǎn)品詳情
HAST高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品用途：
HAST/HALT試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。
產(chǎn)品特點
◆內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。
◆采用高效真空泵，使箱內(nèi)達(dá)到純凈飽和蒸汽狀態(tài)。
◆采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。
◆汽車級硅膠整體密封條，氣密性好，耐用。
◆全自動補水功能,前置式水位確認(rèn)。
◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
技術(shù)規(guī)格
HAST高壓加速老化試驗箱簡介：
HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。
威邦高壓加速老化試驗箱采用優(yōu)化設(shè)計，美觀大方、做工精細(xì)，對應(yīng) IEC60068-2-66 條件，具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結(jié)束后壓力溫
度的急變，保證試驗結(jié)果的正確。
型號 | WBE-HAST-35 | WBE-HAST-40 | ||
尺寸參數(shù)單位cm | 內(nèi)箱尺寸 | 直徑Φ | 35 | 40 |
深D | 45 | 45 | ||
外箱尺寸 | 寬W | 73 | 75 | |
高H | 163 | 155 | ||
深D | 110 | 130 | ||
性能 參數(shù) | 溫度范圍（飽和/非飽和） | 105~151.4℃（99%R.H）；105.0~133.3℃（99%R.H） | ||
110.0~157.5℃（85%R.H）；110.0~140.0℃（85%R.H） | ||||
118.0~162.5℃（65%R.H）；118.0~150.0℃（65%R.H） | ||||
濕度范圍 | 65%~99%R.H | |||
壓力范圍（飽和/非飽和） | 0.019~0.393Mpa | |||
0.019~0.208Mpa | ||||
溫度波動度 | ±0.5℃ | |||
溫度均勻度 | ±0.5℃ | |||
濕度波動度 | ±2.0%R.H | |||
濕度偏差 | ±5.0%R.H | |||
壓力偏差 | ≤±2Kpa | |||
升溫速率 | +25℃~135℃,全程平均約45min(空載，不發(fā)熱) | |||
升壓時間 | 0→0.196Mpa約20min | |||
溫度、濕度、壓力范圍 | ||||
箱體材質(zhì) | 外箱材料 | 優(yōu)質(zhì)防腐電解板，表面靜電粉體烤漆 | ||
內(nèi)箱材料 | SUS316不銹鋼板；內(nèi)膽整體全滿焊焊接而成 | |||
保溫層 | 超細(xì)玻璃保溫層，阻燃等級A1 | |||
燥音 | ≤60分貝（dB）(噪音檢測裝置距離設(shè)備大門1m處測量) | |||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏智能模糊控制器，搭載壓力溫濕度版操作系統(tǒng) | |||
使用條件 | 1.+5℃~+35℃ 2.相對濕度：不大于85%R.H 3.大氣壓力：80kpa~106 kpa 4 .平坦無振動的地面 | |||
保護裝置 | a. 加熱器空焚防止保護開關(guān) b. 加熱器過電流斷路器 c. 循環(huán)風(fēng)扇過電流超載保護 d. 壓縮機高壓保護開關(guān) e. 壓縮機過熱保護開關(guān) f. 壓縮機過電流保護開關(guān) g. 過電壓欠逆相保護開關(guān) h. 線路斷路器 i. 漏電開關(guān) j. 過零點閘流體功率控制器 k. 缺水保護 | |||
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