詳細介紹
1 名稱 1000L冷熱沖擊試驗箱
2 主要技術(shù)參數(shù)
2.1 測試環(huán)境條件環(huán)境溫度為 23℃±3℃、相對濕度 35%~65%RH、試驗箱在“模擬負載"條
件下。
2.2 設(shè)備型號ASR-GH2CJ-1000FW
2.3 設(shè)備名稱水平兩溫區(qū)高低溫沖擊試驗箱
2.4 標稱內(nèi)容積1000 L
2.5 提籃尺寸W1000mm×D1000mm×H1000mm
2.6 外形尺寸(參考, 具體以設(shè)計為準)W4155mm×D2120mm×H2100mm(參考,以實際設(shè)計為準) 備注:尺寸不包括凸出部分(如把手、控制器等)。
2.7 試驗方式對開門水平移動兩箱提籃式。
2.8 溫度沖擊范圍及精度沖擊范圍:
-60℃~+150℃(高溫 60℃~+180℃,低溫-70℃~-10℃) 精度:
溫度波動度±0.3℃
溫度偏差±1.6℃ 溫度均勻度≤1.6℃
2.9 高溫區(qū)溫度曝露范圍+60℃~+150℃
預(yù)熱溫度上限180℃
升溫速率R.T.→+180℃<40min(單獨運行時性能)
2.10 低溫區(qū)溫度曝露范圍-60℃~-10℃
預(yù)冷溫度下限-70℃
降溫速率R.T.→-70℃<60min(單獨運行時性能)
2.11 試驗區(qū)(提籃)高溫曝露溫度范
圍
+60℃~+150℃
低溫曝露溫度范
圍-60℃~-10℃
溫度波動度≤ ±0.3℃
溫度偏差±1.6℃
2.12 曝露(駐留)時間30min
2.13 提籃轉(zhuǎn)換時間≤10s
2.14 溫度恢復(fù)時間≤5min
(a. 在帶載 30kg 鋁錠或等效塑封 IC、電路板)時,高溫 80℃暴露,低溫- 40℃暴露,暴露時間均為 30min;
(b. 在帶載 30kg 鋼鐵或等效塑封IC、電路板)時,高溫 150℃暴露 30min,
低溫- 60℃暴露均為 30min。
2.15 穩(wěn)定時間設(shè)備中心點溫度達到溫度后,再到達穩(wěn)定條件(可實現(xiàn)計量和驗收條
件)的時間需小于 30 分鐘。
2.16 運行方式(1)通過控制器需可選擇運行方式:溫度沖擊試驗、溫度浸泡試驗;溫度浸泡試驗指的是:沖擊箱可以當做獨立的低溫箱或者高溫箱來使用
(通過讓吊籃切換周期變長實現(xiàn));
(2)沖擊起始選擇:可以自由選擇沖擊試驗的起始點從高溫區(qū)開始或者從低溫區(qū)開始;
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