詳細(xì)介紹
1產(chǎn)品名稱冷熱沖擊試驗(yàn)箱
本試驗(yàn)設(shè)備禁止:
易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
有害生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
試驗(yàn)或儲(chǔ)存過程中可能產(chǎn)生上述物質(zhì)或物體的試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
3容積、尺寸和重量
3.1標(biāo)稱內(nèi)容積70L
3.2內(nèi)箱尺寸W410mm×H460mm×D370mm
3.3外型尺寸W1310mm×H1950mm×D1830mm(參見附圖)
3.4重量約1500kg
4性能指標(biāo)
4.1測(cè)試環(huán)境條件環(huán)境溫度為+5℃~+35℃、相對(duì)濕度≤85%
試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣(另有說明的除外)
4.2測(cè)試方法GB/T 5170.2-2017 溫度試驗(yàn)設(shè)備
4.3高溫室(1)預(yù)熱上限溫度:200℃
(2)升溫時(shí)間:常溫→+200℃≤15min
注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
4.4低溫室(1)預(yù)冷下限溫度:-77℃
(2)降溫時(shí)間:常溫→-75℃≤55 min
注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
4.5試驗(yàn)室(試樣區(qū))
(1)試驗(yàn)方式:氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫區(qū)或3溫區(qū)
(2)高溫曝露溫度范圍:+60℃~+200℃
(3)低溫曝露溫度范圍:-70℃~0℃
(4)溫度波動(dòng)度:1℃(如按GB/T 5170.2-1996表示,則為±0.5℃)
(5)溫度偏差:±2.0℃(≤+150℃時(shí))
±3.0℃(>+150℃時(shí))
4.6溫度恢復(fù)性能(1)溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5 min
(2)恢復(fù)條件:
高溫曝露:+150℃ 15min
環(huán)境溫度曝露:<——>
低溫曝露:-65℃ 15min
試樣重量:3.5kg
(塑料封裝IC,均布于2個(gè)試樣籃)
傳感器的位置:試樣的上風(fēng)口側(cè)
電源電壓:規(guī)定電壓
冷卻水溫:+25℃
4.7噪音≤69dB(A)
噪音值是在離設(shè)備正面1m、高度1.2m處測(cè)得的數(shù)據(jù)(自由空間中)
4.8滿足試驗(yàn)方法GB/T 2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 試驗(yàn)Ab:低溫
GB/T 2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 試驗(yàn)Bb:高溫
GB/T 2423.22-2012(IEC60068-2-14:2009) 試驗(yàn)Na:溫度變化
GJB 150.3A-2009 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
(負(fù)載參見5.6,無有源熱負(fù)載)?