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可程式恒溫恒濕試驗箱

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更新時間:2022-10-02 15:22:09瀏覽次數(shù):273

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產品簡介

可程式恒溫恒濕試驗箱一、設備用途:可程式恒溫恒濕試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環(huán)境,并滿足相關標準對試驗箱的要求,主要適用于電工、電子產品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應性試驗;特別適用于進行電子、電工產品的環(huán)境模擬溫濕度試驗

詳細介紹

可程式恒溫恒濕試驗箱


一、設備用途:

可程式恒溫恒濕試驗箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗環(huán)境,并滿足相關標準對試驗箱的要求,主要適用于電工、電子產品整機及零部件進行耐寒試驗、溫濕度變化或劇變條件下的適應性試驗;特別適用于進行電子、電工產品的環(huán)境模擬溫濕度試驗。

二、特點

可程式恒溫恒濕試驗箱系統(tǒng)利用*的環(huán)境模式技術進行設計和制造,產品達到水平。采用能量調節(jié)技術、節(jié)能設計、密封性好、高強度、易清洗,符合國際審美觀的標準化整體式結構箱體;具有操作簡便、控制系統(tǒng)自動化程度高、系統(tǒng)運行穩(wěn)定、運行時間長等優(yōu)點。

三、主要型號尺寸及技術參數(shù):

四、滿足標準:

GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則》
GB2423.22-2008《電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備》
GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4-93試驗D《交變濕熱試驗方法》


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