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激光衍射粒度分析儀

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  • 型號(hào) LS 13 320 XR
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更新時(shí)間:2022-09-24 10:06:30瀏覽次數(shù):343

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產(chǎn)品簡介

貝克曼庫爾特公司已有數(shù)十年顆粒表征分析的歷史。作為顆粒產(chǎn)品的重要一員,多波長PIDS技術(shù)(號(hào):4953978;5104221)的激光衍射粒度分析儀LS系列一直是業(yè)內(nèi)的翹楚。

詳細(xì)介紹

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平,升級(jí)版PIDS技術(shù)(號(hào):4953978;5104221)、優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結(jié)果更準(zhǔn)確,再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。PIDS技術(shù),真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測量;新型的干、濕進(jìn)樣模塊,“即插即用”,滿足不同的分析要求,靈活便利;直觀的軟件和觸摸屏設(shè)計(jì),大大簡化了儀器的操作,僅需點(diǎn)擊幾次便可獲得所需數(shù)據(jù)。LS 13 320 XR將為您帶來測量的新體驗(yàn)!

 

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR主要特點(diǎn):

 - 優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)  

 - 符合FDA的21 CFR Part 11標(biāo)準(zhǔn)  

 - 檢測器數(shù)量更多,高達(dá)132枚獨(dú)立物理位置檢測器,對應(yīng)高達(dá)136個(gè)真實(shí)數(shù)據(jù)通道,能夠清晰    

   區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異,確保不缺漏絲毫信息,快速、準(zhǔn)確的真實(shí)粒度測量。

 - 設(shè)計(jì)的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列,可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號(hào),不管單峰、多峰,準(zhǔn)確

   分析粒度分布。

 - 全自動(dòng)運(yùn)算分析功能,多峰自動(dòng)檢測,無需事先猜測峰型,無需選擇分析模型,提供客觀的唯  

    一報(bào)告。

 - 升級(jí)版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能,真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測

   量。  

 - PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒,而且還可以直接檢測納米級(jí)的多峰分布。

 - 納米分析功能與微米分析功能合二為一,功能強(qiáng)大,真正10nm的測量可使其作為獨(dú)立的高分

   辨率納米粒度分析儀使用。  

 - 新一代固體激光光源,無需預(yù)熱,7萬小時(shí)以上開機(jī)使用壽命 。  

 - 并行式信號(hào)采集與傳輸,確保信號(hào)保持高信噪比、無時(shí)差、高通量。   

 - 多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的準(zhǔn)確性分析獲得高度保障。  

 - 多種自動(dòng)化樣品分散系統(tǒng),“即插即用”,數(shù)秒即可完成切換,高效便利。  

 - 新一代觸摸屏設(shè)計(jì)ADAPT分析軟件,操作更直觀,無需操作經(jīng)驗(yàn),簡單三步完成測量,直觀醒目的導(dǎo)航輪,僅需一步實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導(dǎo)出。

 - ADAPT軟件自動(dòng)對測量結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)綠色或紅色,自動(dòng)合格/不合格管理,實(shí)現(xiàn)直接質(zhì)控。

 - 軟件配有強(qiáng)大的光學(xué)參數(shù)數(shù)據(jù)庫,具有創(chuàng)新的“Zero-Time”即時(shí)光學(xué)模型系統(tǒng),只需一秒

    即可建立新的光學(xué)模型,提供客觀準(zhǔn)確的分析報(bào)告。

 - 儀器配有自檢診斷功能,測試過程中隨時(shí)顯示測量情況。

 

貝克曼庫爾特激光衍射粒度分析儀LS 13 320 XR技術(shù)參數(shù):

 - 粒徑范圍:10納米-3500微米 (峰值)

 - 主光路激光光源:光纖連接的固體激光器

 - 檢測器:132枚獨(dú)立物理角度檢測器  

 - 真實(shí)分析通道:136個(gè)  

 - 多波長測量:475nm、613nm、785nm及900nm  

 - 光學(xué)理論模型:全程Mie理論;Fraunhofer理論  

 - 準(zhǔn)確性誤差:小于+/- 0.5%  

 - 重現(xiàn)性誤差:小于+/- 0.5%  

 

*本產(chǎn)品僅用于科研,不用于臨床診斷。

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