詳細摘要： 用于電池材料研究。半導體制冷加熱，使用經(jīng)濟，操作方便。

詳細摘要： 觀察試樣的化學反應(yīng)、結(jié)構(gòu)變化、熔解與結(jié)晶。

詳細摘要： 電極探針型冷熱臺 RTL550-TZ、RTL450-TZ

詳細摘要： 試樣可在承樣臺面上沿XY方向調(diào)節(jié)微量移動位置，方便實驗時尋找圖像。

詳細摘要： 此款冷熱臺擁有較大的承樣平臺，適用于集成電路芯片測試、多樣品一次檢測。

詳細摘要： 半導體制冷加熱，使用經(jīng)濟，操作方便。軟件操控，溫速可控，溫度更準確。

詳細摘要： 半導體制冷加熱，使用經(jīng)濟，操作方便。軟件操控，溫速可控，溫度更準確。

詳細摘要： 同步幅射衍射冷熱臺 RTL450/F/XRD

詳細摘要： 半導體制冷熱臺 RTL100/B

詳細摘要： 冷熱臺 RTL550、RTL450

詳細摘要： 硅片熱臺 RT400XRD

詳細摘要： 黑體熱臺 RT1400HT

詳細摘要： 本熱臺能對試樣進行單純的加熱試驗，還可對試樣進行氣氛環(huán)境下的催化反應(yīng)加熱試驗。

詳細摘要： 加熱區(qū)域比較大

詳細摘要： 熱臺上下加溫，更適宜大且厚的試樣。

詳細摘要： 樣品上下加熱，更適宜大且厚的試樣。

詳細摘要： 帶側(cè)力高溫熱臺 RT1000-YL

詳細摘要： 適用于對樣品分辨率達納米級的同步幅射測量、原位檢測。

詳細摘要： 適用于對樣品分辨率達納米級的同步幅射測量、原位檢測。

詳細摘要： 適用于受熱不氧化等反應(yīng)的試樣，經(jīng)濟實惠，操作方便。