詳細介紹
LEXT OLS5000 3D測量激光顯微鏡配備的兩套光學系統(tǒng)(彩色成像光學系統(tǒng)和激光共聚焦光學系統(tǒng))讓其能夠獲取彩色信息、高度信息和高分辨率圖像。
OLS5000擁有四個關(guān)鍵價值
1.捕捉任意表面形狀
2.快速獲得可靠數(shù)據(jù)
3.使用簡單-只需放好樣品按下按鈕即可
4.測量具有挑戰(zhàn)性的樣品
技術(shù)規(guī)格
型號 | OLS5000-SAF | OLS5000-SMF | OLS5000-LAF | OLS5000-EAF | OLS5000-EMF | |
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總倍率 | 54x - 17,280x | |||||
視場直徑 | 16um - 5,120um | |||||
測量原理 | 光學系統(tǒng) | 反射式共聚焦激光掃描激光顯微鏡 反射式共焦激光掃描激光-DIC顯微鏡 彩色 彩色DIC | ||||
光接收元件 | 激光:光電倍增管(2ch) | |||||
高度測量 | 顯示分辨率 | 0.5nm | ||||
Linear scale | 0.78nm | |||||
動態(tài)范圍 | 16 bits | |||||
重復性*1 *2 *6 | 10x : 0.1μm, 20x : 0.03μm, 50x : 0.012μm, 100x : 0.012μm | |||||
準確性*1 *3 *6 | 0.15 + L/100μm (L: Measuring length[μm]) | |||||
拼接圖像準確度 *1 *4 *6 | 10x : 5.0+L/100μm, 20x or higher : 1.0+L/100μm (L: Stitching height[μm]) | |||||
測量噪聲*1 *5 *6 | 1nm [Typ] | |||||
寬度測量 | 顯示分辨率 | 1nm | ||||
重復性 *1 *6 | 10x : 0.2μm, 20x:0.05μm, 50x : 0.04μm, 100x : 0.02μm | |||||
準確度*1 *3 *6 | 測量值 +/- 1.5% | |||||
拼接圖像準確度 *1 *3 *6 | 10x : 24+0.5L μm, 20X 15+0.5L μm, 50X 9+0.5L μm, 100X 7+0.5L μm (L: Stitching length[mm]) | |||||
單次測量時測量點的數(shù)量 | 4096 x 4096 pixel | |||||
測量點的數(shù)量 | 36 Mpixel | |||||
XY 載物臺配置 | 長度測量模塊 | • | 無 | 無 | • | 無 |
工作范圍 | 100 x 100mm Motorized | 100 x 100mm Manual | 300 x 300 mm Motorized | 100 x 100mm Motorized | 100 x 100mm Manual | |
樣品高度 | 100mm | 40mm | 37mm | 210mm | 150mm | |
激光光源 | 波長 | 405nm | ||||
輸出 | 0.95 mW | |||||
激光分類 | 2類 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014) | |||||
彩色光源 | 白光 LED | |||||
電氣功率 | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | 240 W | |
質(zhì)量 | 顯微鏡主體 | 約31 kg | 約 32 kg | 約 50 kg | 約43 kg約 | 44 kg |
控制箱 | 約12 kg |
*1 在 ISO554(1976), JIS Z-8703(1983)規(guī)定的恒溫恒濕環(huán)境下使用時提供保證 (溫度: 20˚C±1˚C, 濕度: 50%±1%) 。
*2 在使用 MPLAPON LEXT系列物鏡測量時.
*3 在使用專用LEXT物鏡測量時.
*4 在使用20X或更高倍率專用LEXT物鏡測量時.
*5.在使用MPLAPON100XLEXT物鏡測量時的典型值
*6.基于奧林巴斯認證體系保證
4K 掃描技術(shù)4K掃描技術(shù)可在X軸方向掃描4096像素,是傳統(tǒng)機型的四倍。由此提高了高度測量的可靠性,改善了分辨率,信噪比提升了兩倍。OLS5000顯微鏡無需圖像處理就能檢測幾乎垂直的陡峭斜面和極低的臺階 智能判定功能由于傳統(tǒng)激光顯微鏡采用圖像平滑處理的方式來消除噪聲,有時會將測得的正確的細微高度不規(guī)則數(shù)據(jù)連同噪聲儀器消除。OLS5000顯微鏡采用奧林巴斯自動檢測可靠數(shù)據(jù)的智能判定算法,可在不丟失細微高度不規(guī)則數(shù)據(jù)的情況下實現(xiàn)精確測量。 其他高分辨率測量技術(shù)
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