菲希爾XDLM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線薄膜鍍層分析儀,適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動(dòng)測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。其采用比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量,為了使每次測量都能在*的條件下進(jìn)行。菲希爾XDLM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)值器及基本濾片,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,薄膜鍍層分析儀都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。并且有著良好的*穩(wěn)定性,不用經(jīng)常佼準(zhǔn)儀器,可節(jié)省時(shí)間。
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