X-射線薄膜鍍層測試儀是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素或五層以上鍍層.元素分析檢出限可達(dá)2ppm,分析含量一般為2ppm到99.9%,鍍層厚度zui薄可達(dá)0.005um,一般在20um內(nèi),小孔準(zhǔn)直器(zui小直徑0.1mm),測試光斑在0.2mm以內(nèi)。X-射線鍍層測試儀具備高精度移動(dòng)平臺(tái)(定位精度小于0.005mm)。可任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別樣品,相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正樣品.多次測量重復(fù)性可達(dá)0.05um(對少于1um的zui外層Au),*工作穩(wěn)性為0.1um(對少于1um的zui外層Au)。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
適用于黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測和金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
應(yīng)用行業(yè):主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
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