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BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

參考價(jià)	￥ 11111
訂貨量	≥1臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地成都市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/11/12 13:51:18
訪問(wèn)次數(shù)22

產(chǎn)品標(biāo)簽:

高加速壽命偏壓偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)BiasHAST 半導(dǎo)體芯片

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司簡(jiǎn)稱(chēng)中冷公司(CHINACRYO)是一家專(zhuān)注于超低溫解決方案的創(chuàng)新型高科技公司，企業(yè)通過(guò)*、歐盟CE認(rèn)證。公司主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀（熱流儀）、超低溫制冷機(jī)、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、環(huán)境模擬倉(cāng)、老化測(cè)試設(shè)備等，各種為5G通訊、光模塊、集成電路、芯片、航空航天、天文探測(cè)、電池包、氫能源等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試提供整套溫度環(huán)境解決方案，位于成都總部的技術(shù)中心超過(guò)3000平方米，在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、珠海、重慶設(shè)有辦事機(jī)構(gòu)。公司核心技術(shù)團(tuán)隊(duì)成員平均行業(yè)經(jīng)驗(yàn)超過(guò)12年，超過(guò)40%的工程師擁有高級(jí)職稱(chēng),擁有外國(guó)企業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)工程師超過(guò)30%。公司自主研發(fā)的高低溫沖擊氣流儀（熱流儀）和超低溫制冷機(jī)具有優(yōu)勢(shì)地位，出口歐美及東南亞，在業(yè)內(nèi)有較高的認(rèn)可度。

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低溫冷阱機(jī)，超低溫制冷機(jī)，水汽捕集深冷泵，冷熱沖擊機(jī)，高低溫循環(huán)沖擊機(jī)，熱流儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢(xún)價(jià)

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	產(chǎn)品大小	中型
產(chǎn)品新舊	全新	結(jié)構(gòu)類(lèi)型	立式
溫度范圍	+105℃~+150℃

BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST測(cè)試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對(duì)半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中的老化效應(yīng)。該系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測(cè)試。

BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

（價(jià)格僅供參考，請(qǐng)以實(shí)際價(jià)格為準(zhǔn)）

BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST測(cè)試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對(duì)半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中的老化效應(yīng)。該系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其它電子零件的可靠性測(cè)試。

BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

HAST半導(dǎo)體芯片立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應(yīng)管、射頻功率器件等半導(dǎo)體芯片的可靠性測(cè)試。通過(guò)該測(cè)試，可以評(píng)估芯片在高溫高濕環(huán)境下的性能穩(wěn)定性、壽命以及潛在的失效模式，為芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)。

BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)

B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能。

B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是將被測(cè)元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測(cè)元件規(guī)格設(shè)定）給被測(cè)元件施加一定的偏置電壓。同時(shí)控制系統(tǒng)實(shí)時(shí)檢測(cè)每個(gè)材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當(dāng)被測(cè)材料實(shí)時(shí)漏電流超出設(shè)定時(shí)，自動(dòng)切斷被測(cè)材料的電壓，可以保護(hù)被測(cè)元件不被進(jìn)一步燒毀。