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WMS-1037型顆粒圖像分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱安徽無陌光學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地合肥市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2024/7/2 11:38:53
  • 訪問次數(shù)109
產(chǎn)品標簽:

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安徽無陌光學(xué)儀器有限公司是原上海光學(xué)儀器廠(老上光)的延續(xù)企業(yè),公司擁有老一輩工程技術(shù)人員,集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體, 致力于的精密光學(xué)制造技術(shù)和計算機圖象處理技術(shù)的研發(fā),從事發(fā)展光學(xué)成像、精密機械、計算機相結(jié)合的(光、機、電一體化)光學(xué)儀器開發(fā)和銷售。 主要產(chǎn)品:各種類型的光學(xué)顯微鏡(金相顯微鏡、偏光顯微鏡、熒光顯微鏡、生物顯微鏡、體視顯微鏡)、測量投影儀、影像測量儀、偏光熔點測定儀、生物/偏光顯微鏡加熱臺、阿貝折射儀、金相制樣設(shè)備、布/洛/維硬度計等各種儀器。此外,還有相襯、暗視野等功能的各式顯微鏡。近幾年來,公司還推出了微分干涉(DIC),霍夫曼相襯等功能的顯微鏡,并緊跟市場需要推出一系列的數(shù)碼,視頻多功能攝像儀產(chǎn)品,并將其與自主研發(fā)大型工業(yè)檢測顯微鏡進行有機整合,結(jié)合WUMOView分析軟件平臺,形成自動化數(shù)碼顯微測量分析系統(tǒng)。我們一貫遵循:“顧客至上,一,盡善盡美”的質(zhì)量方針和“預(yù)防污染,嚴守法規(guī),減廢節(jié)能,持續(xù)改進”的環(huán)境方針,竭誠為國內(nèi)外客戶提供造型美觀、性能優(yōu)良、價格合理、用戶滿意的產(chǎn)品。
金相顯微鏡
用途:適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和圓度分析,能給出不同等效原理(如等面積圓、等效短徑等)的粒度分布,能直接觀察顆粒分散狀況,亦可用于其他粒度測試方法的輔助判斷分析。
WMS-1037型顆粒圖像分析儀 產(chǎn)品信息

                                         


1 

WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀是一種圖像法顆粒粒度分析和形貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、工業(yè)CCD攝像機、電腦、打印機和圖像分析軟件等部分組成。

WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。它的基本工作流程是通過專用數(shù)字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝下來并傳輸?shù)诫娔X中,通過專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行處理與分析,從而得到每一個顆粒的粒度和粒形信息,再將每一個顆粒的粒度和粒形信息進行統(tǒng)計,從而得到粒度(D50)及粒度分布、平均長徑比及長徑比分布、平均圓形度及圓形度分布等結(jié)果。

       WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀直觀、形象、準確特點,它是將微米級以上的顆粒放大幾十、數(shù)百乃至上千倍,將整個顆粒形狀顯示在人們的眼前,使人一目了然。它不僅能看到顆粒,還能通過“尺子”來量每一個顆粒的大小,并通過圖像處理技術(shù)得到所有顆粒的直徑,進而得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等。該款顯微顆粒圖像分析儀為粉體材料的科研、生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域增添了一種直觀、簡便、準確的粒度粒形測試手段。

        WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀還具有很多圖像處理功能,包括自動拍攝、自動分割、自動填充、批處理多幅圖像、準確性標定等。其中眾多的“自動”功能簡化了操作,提高了效率;批處理多幅圖像功能,克服了傳統(tǒng)的靜態(tài)圖像顆粒分析系統(tǒng)僅能分析單幅圖像,導(dǎo)致顆粒數(shù)太少,代表性不足,結(jié)果不準確的問題。它可以拍攝很多幅圖像,對這些圖像一幅一幅地處理,每一幅處理過的圖像上的顆粒都匯集到一起,提高了代表性。

二、主要技術(shù)指標與性能

測試范圍

1-3000μm

放大倍數(shù)

160/400/1600/4000倍

重復(fù)性誤差

≤3%(國標樣D50偏差)

準確性誤差

≤3%(國標樣D50偏差)

數(shù)字攝像機CCD

500萬像素

顯微鏡

生物顯微鏡/金相顯微鏡

標尺精度

10μm

分析項目

粒度分布、長徑比分布、圓形度分布、單體顆粒和顆粒群等。

自動分割速度

<1秒

分割成功率

>93%

操作系統(tǒng)

WinXP/Win7/Win8/Win10

接口方式

USB方式

 三、主要應(yīng)用領(lǐng)域:(觀察粒形、分析粒度、監(jiān)測大顆粒)

    · 磨料:如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。

    · 電池材料:球形石墨粉等。

    · 金屬粉:如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。

    · 非金屬粉:如玻璃珠、聚苯乙烯等。

    · 針狀粉:如硅灰石等。

    · 生物制劑:如細胞。

    · 食品:如牛奶、面粉等。

    · 其他:如科研、教學(xué)等。

四、測試原理

    · 標定方法:用顯微鏡專用標準刻度尺直接標定每個像素的尺寸,再根據(jù)每個顆粒圖像面積所占的像素多少來度量顆粒的大小,以微米為單位。

    · 測試原理:通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計,計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積,從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等。為計算方便,WMS-1037顯微顆粒圖像分析儀是以100個像素為一個計量單位的。下表為不同的物鏡放大倍數(shù)情況下100像素所對應(yīng)的粒徑值。

物鏡放大倍數(shù)

像素

粒徑(微米)

備注

4倍

100

250

100像素對應(yīng)的粒徑以標定值為準。

10倍

100

100

40倍

100

25

100倍

100

10

 五、軟件功能舉例

2

3



系統(tǒng)組成:

1.光學(xué)顯微鏡

2.數(shù)字CCD攝像頭

3.圖像處理與分析軟件

4.電腦(選配)

5.打印機(選配)


技術(shù)標準

用途:適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和圓度分析,能給出不同等效原理(如等面積圓、等效短徑等)的粒度分布,能直接觀察顆粒分散狀況

 

亦可用于其他粒度測試方法的輔助判斷分析,是我國現(xiàn)行金剛石微粉粒度測量標準的推薦儀器。

 

用途

適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和圓度分析,能給出不同等效原理(如等面積圓、等效短徑等)的粒度分布,能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆?;蛐☆w粒情況等,定量測量圓度、長短徑比等形貌指標。

 

工作原理

將現(xiàn)代電子技術(shù)與顯微鏡方法相結(jié)合,用攝像機拍攝顯微鏡放大的顆粒圖像,圖像信號進入計算機內(nèi)存后,計算機自動地對顆粒的形貌特征和粒度進行分析和計算,最后輸出測試報告。

 

技術(shù)指標

1. 測試范圍:0.53000μm

2. 重復(fù)性誤差:<1%(標樣D50偏差)

3. 電源要求:100240V  50/60Hz

4. 工作環(huán)境溫度:540℃    儲運溫度:-2560℃

5. 工作環(huán)境濕度:<80% (31℃)

6. 可支持操作系統(tǒng):WindowsXP 32bit, Windows7 32/64bit, Windows8/10 64bit

 

輸出項目

粒度分布表、粒度分布曲線、圓度分布表、圓度分布曲線、平均粒徑、中位徑、邊界粒徑、比表面積、平均圓度、圓度統(tǒng)計、分段平均圓度、典型顆粒圖形等

 

產(chǎn)品特點

1. 采用無陌光學(xué)全新生物顯微鏡和金相顯微鏡,配以500萬像素高畫質(zhì)、高速CMOS圖像傳感器,完整捕捉顯微鏡下樣品所有細節(jié)信息,顆粒分辨能力高,拍照速度快。

2. 自動掃描視場,避免重復(fù)掃描或遺漏掃描,取樣代表性強。

3. 自動調(diào)整視場照度,自動對焦,降低了操作強度,減少了人為因素對結(jié)果的影響。

4. 兼容USB3.0、USB2.0數(shù)據(jù)接口,與各型號計算機的兼容性更強。

5. 標配4X、10X、40X、100X(油)平場消色差物鏡,可保存典型單個顆粒圖像。

 

軟件功能

1. 具有自動背景、自動調(diào)焦、自動掃描功能

2. 軟件控制載物臺移動

3. 3種統(tǒng)計方式:按體積統(tǒng)計、按顆粒數(shù)統(tǒng)計、按面積統(tǒng)計

4. 2種等效方式:等效圓、等效短徑

5. 2種累計分布方向:從小到大、從大到小

6. 具有照度、調(diào)焦指示窗口

7. 具備圖像顆粒自動識別處理分析功能,點擊顆粒圖像即可顯示該顆粒測量參數(shù)

 

WMS-1037顆粒圖像分析儀粒度測試報告

WMS-1037型顆粒圖像分析儀(圖1)

 

WMS-1037顆粒圖像分析儀圓度測試報告


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