膜厚儀，鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-射線鍍層測厚儀，可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實(shí)現(xiàn)了超微小面積，高精度無損測量?？蓽y量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度?？煞治鰡螌渝儗?雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液. 可測元素范圍：鈦（Ti） –鈾（U）可測量厚度范圍：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。膜厚儀，鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-射線鍍層測厚儀，應(yīng)用于鐘表.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個(gè)領(lǐng)域.讓客戶滿意是我們金東霖科技始終的目標(biāo).
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膜厚儀,膜厚測試儀,OSP膜厚儀,增透膜測厚儀,等.實(shí)驗(yàn)室儀器
膜厚儀，鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-射線鍍層測厚儀 產(chǎn)品信息
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