北師大單通道/ 雙通道紫外輻照計UV-A紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作
用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
北師大單通道/ 雙通道紫外輻照計特點
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示,帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù):
項目 | 參數(shù) | |
波長范圍λ1,峰值波長λp | (320~400)nm,λP=365nm | |
波長范圍λ2,峰值波長λp | (375~475)nm,λP=420nm | |
輻照度測量范圍 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% | |
相對示值誤差 | ±8%(相對于NIM標準) | |
角度響應(yīng)特性 | ±5% (α≤10°) | |
線性誤差 | ±1% | |
換檔誤差 | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%(開機30min后) | |
疲勞特性 | 衰減量<2% | |
零值誤差 | 滿量程的±1% | |
響應(yīng)時間 | <1秒 | |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH | |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源 | 6F22型9V積層電池(非充電電池) | |
整機功耗 | <0.1VA |