步入式高低溫試驗(yàn)室
步入式高低溫試驗(yàn)室--產(chǎn)品用途
步入式高低溫試驗(yàn)室適用于、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
步入式高低溫試驗(yàn)室—性能特點(diǎn)
具有及寬的溫度控制范圍和的控制精度,可滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》1、2項(xiàng)的試驗(yàn)要求。
采用的平衡調(diào)溫方式,可調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境,可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
制冷控制:PLC根據(jù)箱內(nèi)溫度的設(shè)定值和實(shí)際值自動(dòng)控制壓縮機(jī)和制冷閥,滿足不同的試驗(yàn)要求,減少設(shè)備運(yùn)行功率,確保壓縮機(jī)的安全運(yùn)行。
步入式高低溫試驗(yàn)室--符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 步入式高低溫試驗(yàn)室技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1:2011 環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn)GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
步入式高低溫試驗(yàn)室--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)(可制作非標(biāo)尺寸)
型號(hào) | STJ-PT-非標(biāo) | |
工作室尺寸(W*H*D)mm | 非標(biāo)(尺寸按客戶要求定制) | |
外型尺寸(W*H*D)mm | 非標(biāo)(尺寸按客戶要求定制) | |
性能 | 溫度范圍 | -70℃~+85℃ |
使用條件 | 使用環(huán)境:溫度5℃~35℃,濕度≦85%RH,電源:AC220/380±10%V,50±5Hz | |
樣品區(qū)承重 | 500kg |