metavision-MX+移動式直讀光譜儀在提供高質(zhì)量性能的同時,還具備移動式直讀光譜儀的所有靈活性、敏捷性和便利性。metavision-MX+的多CMOS光學器件覆蓋了高達671 nm的整個分析范圍,涵蓋了55種以上的元素(包括鋰和鈉的分析),并具有高的分辨率。
通常情況下,需要對鍋爐、架空管道或船上特定部件等項目進行測試。無論是測試等級還是測試應(yīng)力、疲勞、腐蝕跡象或故障風險,此類測試都要求進行高精度分析,而實驗室測試的典型流程并不適合進行此類測試。metavision-MX+移動式直讀光譜儀在提供高質(zhì)量性能的同時,還具備移動式直讀光譜儀的所有靈活性、敏捷性和便利性。metavision-MX+的多CMOS光學器件覆蓋了高達671 nm的整個分析范圍,涵蓋了55種以上的元素(包括鋰和鈉的分析),并具有高的分辨率。
metavision-MX+有多種適配器和探頭可供選擇,可確保以很少的麻煩滿足各種需求。事實上,我們的組合式探頭選件可確保大限度地減少現(xiàn)場更換探頭的需要!只需點擊兩下,您就可以在幾秒鐘內(nèi)現(xiàn)場更換探針。碳分析所有探頭(包括弧形探頭)均可進行碳分析。
結(jié)合了直讀光譜儀技術(shù)與用戶友好的便攜功能相結(jié)合
可調(diào)式后軸,移動更方便
在電源內(nèi)嵌槽內(nèi)提供第二個槽孔、可將設(shè)備容量增加一倍,并實現(xiàn) 2倍 疊加
無需工具即可拆卸/重新安裝模塊;設(shè)計便于在小型汽車后備箱中運輸!
將移動式 OES 變?yōu)榕_式直接通過主電源操作
探頭選項
這兩種移動式 OES 型號均可與一系列探頭配對使用,這些探頭經(jīng)過精心設(shè)計,可提供高精度和高可靠性。這些探頭經(jīng)過精心設(shè)計,不僅具有高精度和準確度 這些探頭經(jīng)過精心設(shè)計,不僅精度高、準確度高,而且便于現(xiàn)場對材料進行方便快捷的分析,適用于廣泛的鐵和有色金屬應(yīng)用。這些探頭可在苛刻的條件下使用 可在任何角度下操作,配有各種適配器,適用于各種形狀、形式和尺寸的樣品,并配有堅固的外殼,可保護內(nèi)部組件免受外部因素的影響,例如 外部因素,如 熱、潮濕和機械應(yīng)變等外部因素的影響。