全功能SEM滿足多用戶實(shí)驗(yàn)室綜合應(yīng)用需求
Prisma TM EX 掃描電鏡結(jié)合了全面的成像性能和環(huán)境模式(ESEM),同時配置了全功能EDX探測器實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的元素分析。
如今的研究對象已經(jīng)超出簡單金屬和涂層樣品的范疇。Prisma EX 分析SEM 可生成高質(zhì)量的圖像和分析,從金屬、斷口和拋光片等傳統(tǒng)樣品,到不導(dǎo)電軟材料。Prisma EX 是適用于當(dāng)前和未來研究應(yīng)用的靈活解決方案。它具有三種成像模式(高真空、低真空和ESEM™),能夠處理的樣品類型很多。
有了UltraDry EDS 探測器和Pathfinder 軟件平臺提供的快速準(zhǔn)確元素分析,樣品表征才變得完備。
Prisma EX具有易用、靈活的用戶界面及各種功能,提高工作效率,并收集所有數(shù)據(jù)。導(dǎo)航功能包括自動導(dǎo)航拼接、雙擊載物臺移動、拖動縮放和其他有用的標(biāo)準(zhǔn)功能。SmartSCAN™ 技術(shù)用于執(zhí)行智能掃描策略,從而減少噪點(diǎn),提供更好的數(shù)據(jù)。
更好的數(shù)據(jù)。更大的靈活性。更高的效率。Prisma EX 為您的投資帶來更大的價值。
主要優(yōu)勢
在自然狀態(tài)下對材料進(jìn)行原位研究:在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品, 同步獲取二次電子像和背散射電子像。
縮短樣品制備時間:低真空和環(huán)境真空技術(shù)可針對不導(dǎo)電和/或含水樣品直接成像和分析,樣品表面無荷電累積。
配備Pathfinder 軟件平臺的UltraDry 探測器提供的 完備EDS 解決方案。
• EXTREME 元素面分布,并且在實(shí)時和處理后都對每個像素進(jìn)行背景扣除、峰值反卷積和定量分析
• 自動漂移補(bǔ)償
• 為離線分析和處理提供無限軟件許可
優(yōu)異的不導(dǎo)電樣品分析功能:借助多級穿過透鏡的真空系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量EDS 和 低真空分析。
利用穩(wěn)定的大束流 (高達(dá)2μA)電子光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的分析快速、準(zhǔn)確的分析。
高精度優(yōu)中心樣品臺,105°傾斜角度范圍,可觀察樣品
軟件直觀、簡便易用,配置用戶向?qū)Ъ癠ndo(撤銷)功能,新手用戶可進(jìn)行高效操作,專家用戶也可進(jìn)行更少的操作,完成快速分析。