| 產品介紹
三槽式冷熱沖擊試驗箱150L
AS3-150
- 突出特點:
氣動風門溫區(qū)切換開閉結構;全自動除霜設計;觸摸屏可編程控制.
合作案例
技術參數(shù)
型號 | AS3- | |||
150A | 150B | 150C | ||
性能 | 溫度范圍 | -55℃~+180℃ | -70℃~+180℃ | -75℃~+180℃ |
溫度沖擊范圍 | -40℃至+150℃(高溫+60℃至+150℃;低溫-40℃至-10℃) | -55℃至+150℃(高溫+60℃至+150℃;低溫-55℃至-10℃) | -65℃至+150℃(高溫+60℃至+150℃;低溫-65℃至-10℃) | |
溫度波動度 | ≤±0.5℃(恒溫時) | |||
溫度偏差 | ≤±2.0℃ | |||
溫度均勻度 | ≤±2.0℃ | |||
溫度恢復時間 | ≤5分鐘 | |||
轉換時間 | ≤10S | |||
升降溫過沖 | ≤±2.0℃ | |||
高溫室 | +60℃~+180℃ | |||
預熱時間 | +60℃~+180℃ 30分鐘以內 | |||
低溫室 | -55℃~-10℃ | -70℃~-10℃ | -75℃~-10℃ | |
預冷時間 | +20℃~-55℃ 45分鐘以內 | +20℃~-70℃ 45分鐘以內 | +20℃~-75℃ 45分鐘以內 | |
試驗室 | -40℃~+150℃ | -55℃~+150℃ | -65℃~+150℃ | |
恢復時間 | 高溫暴露30分鐘 | |||
低溫暴露30分鐘 | ||||
恢復時間5分鐘以內 | ||||
標稱內容積(L) | 150 | |||
內箱尺寸 (寬*深*高)mm | 600 | |||
500 | ||||
500 | ||||
外箱尺寸 (寬*深*高)mm | 1700 | |||
1900 | ||||
1950 | ||||
材質 | 內箱材質 | 不銹鋼(SUS 304) | ||
外箱材質 | 鋼板靜電噴涂表面處理或不銹鋼(SUS304) | |||
保溫材質 | 高密度聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉 | |||
送風測溫系統(tǒng) | 送風特點 | 由試驗箱從右向左水平送風 | ||
循環(huán)馬達 | 中國臺灣東元高低溫馬達 | |||
風輪 | 耐高低溫鋁合金葉片多翼離心式風輪,耐高低溫鋁合金葉片 | |||
溫度傳感器 | T型鉑電阻溫度傳感器 | |||
制冷系統(tǒng) | 水冷或風冷 | |||
機械式蒸氣壓縮復疊式,環(huán)保冷媒R404A/R23 | ||||
控制電路系統(tǒng) | 控制方式 | 由控制器輸出信號通過SSR固態(tài)繼電器實現(xiàn)高精度無觸點開關控制 | ||
控制電路 | 控制線路主要零部件均為優(yōu)質品牌(如法國施耐德電氣) | |||
控制器 | 顯示屏 運行方式 記憶容量 控制精度 傳感器輸入 通訊接口 | 7寸TFT真彩LED液晶觸摸屏接口(65535真彩色,分辯率800*480); 程式控制,定值控制; 程序容量可達127個程式,超長運行,每段999小時,32000次循環(huán); -90.0℃~200.0℃(-90.0℃~300.0℃可定制)誤差±0.2℃; 同時支持T、PT100等多種傳感器輸入; 自帶USB接口,支持RS-485、LAN、GPRS(手機)等方式通訊 (軟體另購) | ||
結構 | 箱門 | 單開門一式,左開 | ||
箱體固定 | 標準配置腳輪及固定器具,用于移動箱體/用于固定箱體 | |||
測試孔 | ф50測試孔1個(帶軟質耐老化橡膠塞) | |||
密封 | 硅膠密封條 | |||
壓力平衡口 | 1/2寸排水共用型 | |||
設備排水口 | 標配1/2內箱凝結水及機組余水排水口 | |||
設備噪音 | ≤70dB(A聲級, 恒定時,設備正前方1米處) | |||
使用環(huán)境溫度 | +5℃~+35℃ | |||
電源功率 | AC 380(1±10%)V (50±0.5)Hz 三相四線+保護地線 | |||
保護裝置 | 超溫保護裝置;防空焚保護裝置;電源欠逆相保護器;壓縮機過熱保護開關;壓縮機高低壓保護開關;壓縮機過電流保護開關;氣源低壓保護開關;蜂鳴器;無熔絲開關;線路保護開關。 | |||
標準配件 | 試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設備出廠前經本公司質量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。 |
注:以上技術參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載(無試樣)時下所測得。
試驗標準及方法
1)GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件;
2)GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
3)GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
4)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
5)GJB 150.3-86 設備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
6)GJB/T 150.4-86 設備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
7)GJB/T 150.5-86 設備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。
標準配置
試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設備出廠前經本公司質量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。