德國菲希爾 HELMUTX-射線線儀器
所有的設(shè)備遵循ASTM B568, DIN 50 987和 ISO 3497等國家和國際標(biāo)準(zhǔn)。 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。
通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù),F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其的特點(diǎn)。****的WinFTM®(版
本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),同時可以對包含多達(dá)24種
元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM®V.6軟件)
典型的應(yīng)用范圍如下:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
*多24種鍍層(使用WinFTM®V.6軟件)。
分析多達(dá)4種(或24種-使用V.6軟件)元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度
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