詳情介紹:
CL5超聲波精密測(cè)厚儀
Krautkramer CL5超聲波精密測(cè)厚儀
CL5精密測(cè)厚儀功能齊全、使用簡(jiǎn)便、體積小巧,結(jié)構(gòu)堅(jiān)固。
產(chǎn)品特點(diǎn)
• 測(cè)量數(shù)據(jù)的高穩(wěn)定性和可重復(fù)性增強(qiáng)了測(cè)量性能
• 所有模塊都帶有快速A掃描功能,能夠調(diào)整探頭和控
制測(cè)試數(shù)據(jù)
• 外殼堅(jiān)固,密封良好,幾乎能夠適應(yīng)所有使用環(huán)境要
求
• 電源供應(yīng)靈活,可使用3節(jié)標(biāo)準(zhǔn)“AA”電池或一塊鋰
電池(可在儀器內(nèi)進(jìn)行充電)
• 使用溫度范圍:-10°C ~ 60°C
• 顯示空心/實(shí)心厚度測(cè)量數(shù)據(jù)的耦合狀態(tài)
• 超過(guò)*低和*高門限值通過(guò)LED報(bào)警顯示
• 用戶可通過(guò)參數(shù)設(shè)置,滿足特殊結(jié)構(gòu)測(cè)量需要和快速
測(cè)量需要
• 用戶界面支持多種語(yǔ)言
• 超聲波參數(shù)自動(dòng)控制(增益和閘門控制)
• 6種不同的測(cè)量和顯示模式適用于各種特殊應(yīng)用
• 接觸探頭和延遲線探頭種類繁多
• 可選配的實(shí)時(shí)A掃描及帶SD記憶卡的可編程數(shù)據(jù)記錄
器
運(yùn)用
CL5適用于各種工業(yè),尤其在汽車和航空工業(yè)中作為質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)量的工具。它可用于鋼卷等新型材料厚度的抽樣檢查??赏ㄟ^(guò)中期或*終厚度測(cè)量對(duì)加工操作進(jìn)行監(jiān)控,還可用于精密測(cè)量塑料元件的厚度。CL5同使用范圍廣泛的接觸探頭和延遲線探頭兼容,當(dāng)使用延遲線探頭對(duì)超薄元件進(jìn)行測(cè)量時(shí),其延遲自動(dòng)測(cè)量模式從**個(gè)反射回波和多重回波測(cè)量之間進(jìn)行切換。
• 所有模塊都帶有快速A掃描功能,能夠調(diào)整探頭和控
制測(cè)試數(shù)據(jù)
• 外殼堅(jiān)固,密封良好,幾乎能夠適應(yīng)所有使用環(huán)境要
求
• 電源供應(yīng)靈活,可使用3節(jié)標(biāo)準(zhǔn)“AA”電池或一塊鋰
電池(可在儀器內(nèi)進(jìn)行充電)
• 使用溫度范圍:-10°C ~ 60°C
• 顯示空心/實(shí)心厚度測(cè)量數(shù)據(jù)的耦合狀態(tài)
• 超過(guò)*低和*高門限值通過(guò)LED報(bào)警顯示
• 用戶可通過(guò)參數(shù)設(shè)置,滿足特殊結(jié)構(gòu)測(cè)量需要和快速
測(cè)量需要
• 用戶界面支持多種語(yǔ)言
• 超聲波參數(shù)自動(dòng)控制(增益和閘門控制)
• 6種不同的測(cè)量和顯示模式適用于各種特殊應(yīng)用
• 接觸探頭和延遲線探頭種類繁多
• 可選配的實(shí)時(shí)A掃描及帶SD記憶卡的可編程數(shù)據(jù)記錄
器
運(yùn)用
CL5適用于各種工業(yè),尤其在汽車和航空工業(yè)中作為質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)量的工具。它可用于鋼卷等新型材料厚度的抽樣檢查??赏ㄟ^(guò)中期或*終厚度測(cè)量對(duì)加工操作進(jìn)行監(jiān)控,還可用于精密測(cè)量塑料元件的厚度。CL5同使用范圍廣泛的接觸探頭和延遲線探頭兼容,當(dāng)使用延遲線探頭對(duì)超薄元件進(jìn)行測(cè)量時(shí),其延遲自動(dòng)測(cè)量模式從**個(gè)反射回波和多重回波測(cè)量之間進(jìn)行切換。
CL5用于精密測(cè)量金屬和塑料元件的厚度,這類元件由于幾何形狀復(fù)雜,使用傳統(tǒng)測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量比較困難。
通過(guò)使用可選配的實(shí)時(shí)A掃描,CL5能實(shí)時(shí)顯示超聲波響應(yīng),調(diào)整換能器,校準(zhǔn)復(fù)雜形狀元件的測(cè)量**度。
CL5的數(shù)據(jù)通過(guò)一個(gè)可選配的可編程數(shù)據(jù)記錄器管理,該記錄器使用標(biāo)準(zhǔn)SD卡。
CL5的設(shè)計(jì)便于用戶使用,操作直觀,屏幕提示簡(jiǎn)單易懂,無(wú)需專用按鍵。
相關(guān)產(chǎn)品:硬度計(jì),超聲波探傷儀,超聲波測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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