H3TRB高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng)適用范圍:適用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、軸向、徑向等各種封裝分立器件進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn):如各種二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、橋堆等。
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:高溫反偏老化試驗(yàn)箱,光電子器件老化系統(tǒng),電容器高溫老化系統(tǒng),高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng),光電耦合器專用設(shè)備,發(fā)光二極恒流高溫電流壽命試驗(yàn),大功率晶體管老化系統(tǒng),IGBT模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng),集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、DC/DC模塊高溫老化系統(tǒng)、三端穩(wěn)壓器高溫壽命老化系統(tǒng)、高溫反偏老化系統(tǒng)、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統(tǒng)、二極管恒流老化系統(tǒng)、二極管全動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、OPLIFE、功率循環(huán)、IGBT功率循環(huán)老化系統(tǒng)、LED老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)、可控硅老化系統(tǒng)、老化板、老化測(cè)試座、試驗(yàn)電源 等等
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞:高溫反偏老化試驗(yàn)箱,光電子器件老化系統(tǒng),電容器高溫老化系統(tǒng),高溫高濕偏置試驗(yàn)系統(tǒng),光電耦合器專用設(shè)備,發(fā)光二極恒流高溫電流壽命試驗(yàn),大功率晶體管老化系統(tǒng),IGBT模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng),集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、DC/DC模塊高溫老化系統(tǒng)、三端穩(wěn)壓器高溫壽命老化系統(tǒng)、高溫反偏老化系統(tǒng)、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件綜合老化系統(tǒng)、二極管恒流老化系統(tǒng)、二極管全動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)、OPLIFE、功率循環(huán)、IGBT功率循環(huán)老化系統(tǒng)、LED老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)、可控硅老化系統(tǒng)、老化板、老化測(cè)試座、試驗(yàn)電源 等等
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 型號(hào)ESPEC GPR-03
- 試驗(yàn)腔尺寸600*750*800(mm)
- 風(fēng)道設(shè)計(jì)豎向循環(huán)風(fēng)道設(shè)計(jì)(老化板豎直插板)
- 試驗(yàn)溫度 / 濕度范圍-20℃~+150℃ / 25~98%RH
- 溫度均勻性125℃±3℃(空載); 試驗(yàn)溫度波動(dòng)度:±0.5℃
- 供水人工補(bǔ)水/自動(dòng)補(bǔ)水
- 容量
- 獨(dú)立試驗(yàn)區(qū)數(shù)量4-8個(gè)區(qū)
- 試驗(yàn)通道16個(gè)
- 單板工位數(shù)40 / 80工位(可選)
- 整機(jī)容量640 / 1280工位(可選)
- 試驗(yàn)電源
- 試驗(yàn)電源數(shù)量4~8臺(tái)
- 試驗(yàn)電源量程Max1000V
- 驅(qū)動(dòng)檢測(cè)板
- 驅(qū)動(dòng)板數(shù)量16塊
- 電壓檢測(cè)范圍0.0V~1000.0V; 分辨率:1V; 精度:±(1%+1LSB)
- 漏電流檢測(cè)范圍0.0μA~50.0mA; 分辨率:0.1μA; 精度:±(1%+1LSB)
- 工位保護(hù)方式繼電器保護(hù) / 保險(xiǎn)絲保護(hù)
- 老化板
- 基板材質(zhì)耐150℃高溫的H3TRB專用高絕緣底板,表面經(jīng)過(guò)進(jìn)口三防漆涂覆,確保高溫高濕條件下使用壽命可達(dá)兩年以上
- 老化座老化座Socket均采用耐高溫、抗氧化、耐疲勞材料
- 老化板尺寸290*600(mm)
- 整機(jī)信息
- 尺寸1800W*1550D*2000H(mm)
- 電網(wǎng)要求A.C.220V±10% / 50Hz
- 功率 / 重量10KW / 700kg