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納米拉曼光譜儀

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公司名稱HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
品牌HORIBA
型號XploRA Nano
所在地上海市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2023/8/9 11:45:11
訪問次數(shù)1162

產(chǎn)品標(biāo)簽:

拉曼光譜原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)顯微共焦拉曼光譜納米拉曼光譜儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

成立于1819年，Jobin Yvon公司的總部設(shè)在高科技發(fā)達(dá)的法國首都――巴黎。在近二百年的發(fā)展中，Jobin Yvon公司始終遵循著創(chuàng)建以來的一貫宗旨——高品質(zhì)，為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品：

· 1900年世博會上的干涉儀、光彈性測量儀
· 1962年雙級光譜儀和1400系列雙級激光拉曼光譜儀以及計(jì)算機(jī)全控制熒光光譜儀
· 1968年商品化全息光柵
· 1973年相差校正全息光柵（榮獲IR100獎）
· 1977年拉曼分子顯微探針（IR100獎），順序掃描型ICP光譜儀
· 1975年全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)拉曼光譜儀和全計(jì)算機(jī)化光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀
· 1983年離子刻蝕“閃耀”全息光柵
· 1985年光柵型波分復(fù)用器
· 1989年超級校正全息光柵和二維成像光譜儀
· 1996年榮獲法國CNRS佳橢偏儀獎
· 1998年可配CCD檢測器的Triax系列光譜儀（獲激光儀誘導(dǎo)發(fā)光技術(shù)獎）
· 1998-1996年收購美國品牌SPEX、法國Dilor和法國Sofie儀器公司
· 2001年獲得美國宇航局（NASA）頒發(fā)“宇宙起源攝譜儀光柵接觸貢獻(xiàn)獎”
· 2002年世界FTIFR聯(lián)用拉曼光譜儀，在Pittcon展會獲得Editor佳新品獎
· 2002-2003年收購德國Philips橢偏儀公司和IBH（英格蘭）公司
· 2006年美國宇航局（NASA）噴射推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室頒發(fā)“運(yùn)行碳觀測器（OCO）衍射光柵杰出貢獻(xiàn)獎”

HORIBA歐洲總部

自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了儀器制造集團(tuán)――HORIBA公司，完成了公司強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)手。

如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。

目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個(gè)部門。旨在為您提供強(qiáng)大的技術(shù)支持與科研保障！

展開顯示更多內(nèi)容

科學(xué)儀器：拉曼光譜分析，拉曼光譜設(shè)備，熒光光譜儀，粒度分布儀，粒度分析儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口	產(chǎn)品新舊	全新

HORIBA XploRA Nano納米拉曼光譜儀，緊湊、全自動、易于使用，這是一套已經(jīng)得到證實(shí)了的經(jīng)濟(jì)適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng)，它幫助大家實(shí)現(xiàn)TERS成像。

納米拉曼光譜儀產(chǎn)品信息

這是一套基于掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。

XploRA Nano系統(tǒng)，緊湊、全自動、易于使用，這是一套已經(jīng)得到證實(shí)了的經(jīng)濟(jì)適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng)，它幫助大家實(shí)現(xiàn)TERS成像。

HORIBA XploRA Nano納米拉曼光譜儀概要

多樣品分析平臺

宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個(gè)平臺上進(jìn)行

簡單易用

全自動操作，在幾分鐘內(nèi)即可開始測量，而不是幾小時(shí)！

真正的共聚焦

高空間分辨率，自動樣品臺，全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側(cè)向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強(qiáng)光譜測量（TERS和TEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力，多光柵自動切換，寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

高空間分辨率

針尖增強(qiáng)的納米級光譜分辨率（優(yōu)于10nm）

豐富的光學(xué)光譜（拉曼和光致發(fā)光）

多技術(shù)/多環(huán)境

結(jié)合TERS/TEPL化學(xué)成像的多模式SPM技術(shù)包括AFM、導(dǎo)電和電學(xué)模式（cAFM、KPFM）、STM、液池和電化學(xué)環(huán)境。一個(gè)工作站和強(qiáng)大的軟件即可對兩臺儀器進(jìn)行*控制，SPM和光譜儀可以同時(shí)或獨(dú)立操作。

堅(jiān)固性/穩(wěn)定性

高共振頻率AFM掃描器，遠(yuǎn)離噪音干擾！高性能表現(xiàn)，無需主動隔振系統(tǒng)。

HORIBA XploRA Nano納米拉曼光譜儀配置

SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器： 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)

掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關(guān)閉）；Z<0.04 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）

高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自動趨近：XYZ數(shù)字閉環(huán)控制，Z向馬達(dá)趨近距離18mm

樣品尺寸：40 mm x 50 mm x 15 mm

樣品定位：自動樣品臺范圍：5 mm x 5 mm

定位精度：1µm

AFM測試頭

激光波長：1300nm（光譜檢測器無干擾）

激光準(zhǔn)直：全自動懸臂—光電二極管激光準(zhǔn)直

探針通道：為外部操作和探針提供自由通道

SPM測量模式

標(biāo)準(zhǔn)模式：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式（LFM）、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式（MFM）、開爾文探針模式（表面電勢，SKM，KPFM）、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式（EFM）、力曲線測量、壓電響應(yīng)模式（PFM）、納米蝕刻、納米操縱

升級模式：溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導(dǎo)電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測量等